考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器件温度不稳定，有跳变，可能出现问题的部件有（）A、温控板B、模拟信号调理板C、探头D、温度变送器E、校零板
考题
THDS-A红外轴温探测系统温控板是控制（）温度的电路板。A、热电阻B、铂电阻C、碲镉汞光子器件D、热靶
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度E、环境温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统校零时候探头所探测的温度参考对象是（）A、挡板温度B、热靶温度C、调制盘温度D、环境温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统IPC工作模块中，实时数据显示区域，下列（）是外探信息。A、大门状态B、挡板状态C、器件温度D、制冷电流E、盘温
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报左侧挡板状态故障，下列（）部件可能出现问题。A、功放板B、模拟信号调理板C、探头D、温控板E、测温板
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件有（）A、探头B、模拟信号调理板C、数字IO卡D、温控板E、测温板
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板完成（）路温度信号的测量。A、4B、6C、8D、10
考题
THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是（）。
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A、调制盘温度B、器件温度C、车轴温度D、热靶温度
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
THDS-A红外轴温探测系统下列温度，哪一种不属于测温板采集的温度。（）A、靶温B、柜温C、轴温D、盘温
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，可能出现问题的部件有（）A、探头B、测温板C、数字IO卡D、温控板E、功放板
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件中不可能有（）A
光子探头B
测温板C
热敏探头D
温控板
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是（）。
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，出现问题的部件中不可能包括（）A
光子探头B
测温板C
数字IO卡D
AD采集卡
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统测温板不对下列（）测量。A
调制盘温度B
器件温度C
车轴温度D
热靶温度
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统下列温度，哪一种不属于测温板采集的温度。（）A
靶温B
柜温C
轴温D
盘温
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统测温板对下列（）测量A调制盘温度B器件温度C车轴温度D热靶温度E环境温度
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，可能出现问题的部件有（）A探头B测温板C数字IO卡D温控板E功放板
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃、150℃或与正常值偏离较大，正确的解决办法是（）。A
更换探头B
更换测温板C
左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，则用万用表测量测温板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换内探测温板，否则更换内探AD采集板D
更换AD采集板
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统IPC工作模块中，实时数据显示区域，下列（）是内探信息。A大门状态B挡板状态C器件温度D制冷电流E板温
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器件温度不稳定，有跳变，可能出现问题的部件有（）A温控板B模拟信号调理板C探头D温度变送器E校零板
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A
（环温-50）±15℃B
（环温-50）±20℃C
（环温-50）±25℃D
（环温-50）±30℃
