考题
下列温度中在THDS-A轴温探测系统中测温原理和其他几项不同的是（）A、靶温B、板温C、环境温度D、轴温
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）。A、光子探头B、热敏探头C、直流探头D、调制探头E、热释电探头
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A、阳光干扰B、轴温高C、轴温低D、探头异常
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头器件温度正常值范围是（）。A、（环温-50）±15℃B、（环温-50）±20℃C、（环温-50）±25℃D、（环温-50）±30℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统中轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同划分为（）和（）
考题
THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可划分为（）探头和直流探头。A、脉冲B、调制C、感应D、接触
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板的测温范围是（）A、－100℃～＋150℃B、－100℃～＋100℃C、－150℃～＋100℃D、－150℃～＋150℃
考题
THDS-A红外轴温探测系统热靶标定曲线纵坐标为（）。A、探头输出电压B、热靶温度C、调制盘温度D、板温
考题
下列不属于THDS-A红外轴温探测系统控制箱内板卡的是（）。A、校零板B、环温转接板C、外探测温板D、信号调理板
考题
THDS-A红外轴温探测系统测温板测温范围是（）℃。A、-100～+200B、-100～+150C、-100～+100D、0～+200
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按工作方式不同可以划分为（）。A、光子探头B、热敏探头C、直流探头D、调制探头E、热释电探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统中，热靶大门组合件为（）提供温度基准。A、轴温计算B、热靶标定C、系统标定D、探头标定
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是器温-100℃，且制冷电流正常，可能出现问题的部件中不可能有（）A、光子探头B、测温板C、热敏探头D、温控板
考题
THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是（）。
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按工作方式不同可以划分为（）A、热敏探头B、光子探头C、调制探头D、直流探头E、测温探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
THDS-A红外轴温探测系统下列温度，哪一种不属于测温板采集的温度。（）A、靶温B、柜温C、轴温D、盘温
考题
轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A、热敏探头B、光子探头C、调制探头D、直流探头E、测温探头
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，可能出现问题的部件有（）A、探头B、测温板C、数字IO卡D、温控板E、功放板
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是（）。
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）。A光子探头B热敏探头C直流探头D调制探头E热释电探头
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按工作方式不同可以划分为（）A热敏探头B光子探头C调制探头D直流探头E测温探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A
阳光干扰B
轴温高C
轴温低D
探头异常
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统下列温度，哪一种不属于测温板采集的温度。（）A
靶温B
柜温C
轴温D
盘温
考题
多选题轴温探头是轴温探测的核心部件，按测温元件不同可以划分为（）A热敏探头B光子探头C调制探头D直流探头E测温探头
考题
单选题下列温度中在THDS-A轴温探测系统中测温原理和其他几项不同的是（）A
靶温B
板温C
环境温度D
轴温
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统探头按工作方式可分为（）探头和直流探头。A
脉冲B
调制C
感应D
接触
