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下列关于p图的描述正确的有( )。A. p图的统计基础是泊松分布
B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法
D.若ni不全相等,则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的
E. p图是控制过程的合格品率p的控制图
B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法
D.若ni不全相等,则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的
E. p图是控制过程的合格品率p的控制图
参考答案
参考解析
解析:A项,p图是控制过程的不合格品率p的控制图,其统计基础是二项分布。
更多 “下列关于p图的描述正确的有( )。A. p图的统计基础是泊松分布 B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线 C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法 D.若ni不全相等,则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的 E. p图是控制过程的合格品率p的控制图” 相关考题
考题
有关P图的叙述正确的是()。
A.p控制图的统计控制状态是指过程的不合格品率为一常数p,且各个产品的生产是独立的B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等,则p控制图的Lc、LP和UCLP是凹凸状的
考题
下列关于p图的描述正确的有( )。A.P图的统计基础是泊松分布B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等,则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E.p图是控制过程的合格品率p的控制图
考题
在p控制图中,若每个子组ni不全相等,则p控制图的上下控制线是凹凸状,对此 GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。A.当ni变化不大时,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法C.选样本量充分大,使得每个子组平均有一个不合格品D.不标出LCL控制线E.不标出UCL和LCL控制线
考题
关于常规计量控制图与P图的对比,正确的有( )。A.计量控制图子组大小要求较大B.计量控制图子组大小要求较小C.计量控制图要求、测量出具体量值D.计量控制图适用于控制多个特性的场合E.P图更为灵敏
考题
下列有关p图的叙述正确的有( )。A.P图的统计基础是泊松分布B.如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C.当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法D.若ni不全相等,则户控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的E.p图是控制过程的合格品率P的控制图
考题
关于p控制图的说法,正确的有( )。A.P图是控制生产过程的加工时间的控制图B.P图是控制生产过程的不合格品率的控制图C.P图中的各个子组大小可以不相等D.P图的统计基础是二项分布E.P图的统计基础是泊松分布
考题
关于控制图选用的说法,正确的有( )。A.当子组样本量较大时,为方便计算应选取均值一极差图SXB
关于控制图选用的说法,正确的有( )。A.当子组样本量较大时,为方便计算应选取均值一极差图B.对于计数控制图,当样本量不同时应选择P图或u图C.当控制对象为计件值时应选择C图或"图D.计量控制图比计数控制图效率高,应尽量选用计量控制图E.样本难以获取或检验费用过高的场合适宜选择单值控制图
考题
下列关于p控制图的叙述中,正确的有( )。[2008年真题]
A. p图是控制生产过程的加工时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E. p图的统计基础是泊松分布
考题
关于不合格品率控制图的说法,正确的有( )。
A.子组大小可以不相等
B.子组大小相等时控制限为凹凸状,无法判异
C.多用于控制产品外观瑕疵点的变化
D.用于分析过程不合格品率的波动
E.理论基础是指数分布
考题
关于p控制图的说法,正确的有()。
A. p图是控制生产过程的加丁时间的控制图
B. p图是控制生产过程的不合格品率的控制图
C. p图中的各个子组大小可以不相等
D. p图的统计基础是二项分布
E.p图的统计基础是泊松分布
考题
关于p控制图的说法,正确的有( )。
A.用于控制过程的不合格品率
B.当每个子组的大小不同时,常规p图的控制限呈凹凸状
C.如果每个子组的大小都等于n,则n越大,控制限越宽
D.统计基础为二项分布
E.当用标准化打点值的方法时,上下控制限为±3
考题
关于常规计量控制图与图的对比,正确的有( )。
A.计量控制图子组大小要求较大
B.计量控制图子组大小要求较小
C.计量控制图要求测量出具体量值
D.计量控制图适用于控制多个特性的场合
E. p图更为灵敏
考题
在p控制图中,若每个子组不全相等,则P控制图的上下控制线是凹凸状,对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。
A.当ni 变化不大时,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线
B.当ni 变化较大时,可采用标准化变量的方法
C.选样本量充分大,使得每个子组平均有一个不合格品
D.不标出LCL控制线
E.不标出UCL和LCL控制线
考题
多选题在p控制图中,若每个子组ni不全相等,则p控制图的上下控制线是凹凸状,对此GB/T 4091—2001提出的解决方法有( )。A当ni变化不大时,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线B当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法C选样本量充分大,使得每个子组平均有一个不合格品D不标出LCL控制线E不标出UCL和LCL控制线
考题
单选题当控制图的质量指标为“单位产品上的缺陷数”时,控制图应选____,当控制图的质量指标为不合格品率时,控制图应选____。( )A
p图;c图B
c图;p图C
np图;u图D
u图;p图
考题
多选题下列关于p图的描述正确的有( )。Ap图的统计基础是泊松分布B如果ni变化不大,则采用单一的等于平均子组大小的一组控制线C当ni变化较大时,可采用标准化变量的方法D若ni不全相等,则p控制图的LCLp和UCLp是凹凸状的Ep图是控制过程的合格品率P的控制图
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