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判断题
探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

考题 超声指向性优劣的评价指标是A、近场长度和扩散角B、声束直径大小C、声束几何形状D、探头频率E、聚焦程度

考题 由于声束扩散原因引起的声衰减,可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率

考题 关于超声束指向性的描述,错误的是A、超声波指向性优劣的指标是远场长度B、增加探头孔径可改善声束的指向性C、近场扩散角越大,声束的指向性越差D、超声频率越低,声束的指向性越差E、现代小巧的聚焦探头可以减少远场声束的扩散

考题 评价超声指向性优劣的指标是A.近场长度和扩散角B.声束大小C.声束形状D.探头频率E.聚焦程度

考题 超声指向性优劣的评价指标是A.近场长度和扩散角 B.声束直径大小 C.声束几何形状 D.探头频率 E.聚焦程度

考题 关于超声束指向性的描述,错误的是A.增加探头孔径可改善声束的指向性 B.近场扩散角越大,声束的指向性越差 C.超声频率越低,声束的指向性越差 D.现代小巧的聚焦探头可以减少远场声束的扩散 E.超声波指向性优劣的指标是远场长度

考题 由于声束扩散原因引起的声衰减,可以克服的方法是A.降低帧频 B.变换探头频率 C.降低探头频率 D.提高帧频 E.声束聚焦

考题 同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。

考题 评价超声指向性优劣的指标是()。A、近场长度和扩散角B、声束大小C、声束形状D、探头频率E、聚焦程度

考题 探头频率越高,声束扩散角越小。

考题 超声波探头辐射的声场中,声压以()最高。A、旁声束上B、半扩散角以外C、中心轴线上D、扩散角与旁声束交界部位

考题 晶片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角()。A、变大B、变小C、不变D、A、B和C

考题 探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。

考题 芯片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角().

考题 70°探头探测钢轨伤损时,回波有位移是因为()。A、声程不同B、声束扩散C、探头位移D、频率变化

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。

考题 高频探头的声束扩散角比低频探头的小。

考题 高频探头的声束扩散角要比同直径低频探头的()。A、大B、小C、一样D、任意

考题 填空题芯片直径相同的超声波探头,频率高的其声束扩散角().

考题 单选题高频探头的声束扩散角要比同直径低频探头的()。A 大B 小C 一样D 任意

考题 判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A 对B 错

考题 判断题探头频率越高,声束扩散角越小。A 对B 错

考题 单选题评价超声指向性优劣的指标是()。A 近场长度和扩散角B 声束大小C 声束形状D 探头频率E 聚焦程度

考题 单选题由于声束扩散原因引起的声衰减,可以使用(  )方法克服。A 降低帧频B 增加帧频C 增加探头频率D 声束聚焦E 降低探头频率

考题 判断题高频探头的声束扩散角比低频探头的小。A 对B 错