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判断题
用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

考题 用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

考题 与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用( )。A、较低频率的探头和较粘的耦合剂B、较高频率的探头和较粘的耦合剂C、较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D、较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

考题 由于声束扩散原因引起的声衰减,可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率

考题 克服声束远场产生声束扩散的现象,常采用的方法是A、降低波长B、调节时间增益补偿C、增大发射孔径、加用深部聚焦(发射)D、增加探头发射频率E、降低探头发射频率

考题 与表面光滑的工件相比,检验表面粗糙的工件时,一般应采用()A.较低频率的探头和较粘的耦合剂 B.较高频率的探头和较粘的耦合剂 C.较高频率的探头和粘度较小的耦合剂 D.较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

考题 采用超声法对钢结构进行内部缺陷探伤时,如材料较厚时宜选用发射频率较高的探头。

考题 与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件探伤时通常需要使用()A、频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B、频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C、频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D、频率较低的探头和粘度较低的耦合剂

考题 与表面光滑的零件相比,检验表面粗糙的零件时一般应采用()。A、较低频率探头和较粘的耦合剂B、较低频率探头和粘度较小的耦合剂C、较高频率探头和较粘的耦合剂D、较高频率探头和粘度较小的耦合剂

考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的频率()A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率

考题 用单探头发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率是()。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率

考题 用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用不太高的频率。

考题 探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。

考题 用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。

考题 选择探头K值时,应考虑缺陷的取向,应尽可能使声束与缺陷垂直

考题 用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值

考题 如果探测面粗糙,应该采用较高频率的探头探伤。

考题 当焊缝中的缺陷与声束成一定角度时,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收。

考题 判断题探头晶片面积相同,高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。A 对B 错

考题 单选题用单探头法,要发现与声束取向不良的缺陷,应采用的探头频率()。A 愈高愈好B 愈低愈好C 不太高D 较寻常时取高值

考题 填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

考题 单选题与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用()A 较低频率的探头和较粘的耦合剂B 较高频率的探头和较粘的耦合剂C 较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D 较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

考题 单选题与表面光滑的零件相比,表面粗糙的零件探伤时通常需要使用()A 频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B 频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C 频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D 频率较低的探头和粘度较低的耦合剂

考题 单选题与表面光滑的工件相比,检验表面粗糙的工件时,一般应采用()A 较低频率的探头和较粘的耦合剂B 较高频率的探头和较粘的耦合剂C 较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D 较低频率的探头和粘度较小的耦合剂

考题 单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷,应该采用的频率()。A 越高越好B 越低越好C 不太高的频率D 较寻常为高的频率