考题
THDS-C探测站中，热靶电机出现故障可能会造成（）。A、不能正确读取板温B、不能接车C、不能正确测得轴温D、不能校光子探头曲线E、不能正确读取元温
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
动态检测试验车检测HZT型外探某探测站Z字板的第一尖峰与第二尖峰的间隔格数偏多，则（）。A、探头仰角偏高B、探头仰角偏低C、探头偏外D、探头偏里
考题
THDS-C探测站中，如果出现探头噪声大，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A、探头B、探头电缆C、前放板D、A/D卡E、I/O卡
考题
（康拓）THDS-A系统对探头进行系统标定时，如果所得系数与正常值偏离较大，有可能的原因造成是（）。A、有可能是系统噪声，造成探头输出异常，程序计算系数异常B、有能是靶温温度发生改变，需要重新做手动热把标定C、有能是环境温度发生改变，需要重新做手动热把标定D、有可能是阳光干扰，造成探头输出异常，程序计算系数异常
考题
THDS-C探测站中，如果出现探头输出幅值低，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A、探头B、探头电缆C、前放板D、A/D卡E、I/O卡
考题
动态检测试验车检测HZT型外探某探测站Z字板的第一尖峰格数偏多，则（）。A、探头仰角偏高B、探头仰角偏低C、探头偏外D、探头偏里
考题
THDS-C探测站中，标准配置的探头的探测方式有（）。A、平探B、内探C、外探D、上探E、双外探
考题
THDS-C探测站中，下列哪些温度是可以通过探头采集回来准确的温度数值（）。A、环温+10000℃B、环温+1000℃C、环温+50℃D、环温+10℃E、环温-10℃
考题
THDS-C探测站标准配置下一个探测站有几个探头（）。A、1B、2C、3D、4
考题
（哈科）THDS-C系统，热靶标定数据中，探头输出电压值随着热靶温度的升高而降低。
考题
THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。
考题
THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-C探测站内探探头水平夹角描述正确的是（）。A、0°B、2°C、4°D、6°
考题
多选题THDS-C探测站中，如果出现探头输出幅值低，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A探头B探头电缆C前放板DA/D卡EI/O卡
考题
判断题（哈科）THDS-C系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
多选题THDS-C探测站中，如果出现探头噪声大，经左右互换，故障不移动，则可能的故障点有（）。A探头B探头电缆C前放板DA/D卡EI/O卡
考题
判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A
对B
错
考题
多选题THDS-C探测站造成探头温度输出偏低的原因可能的是（）。A探头镜片破碎B探头视场有遮挡C热靶表面太脏D探头响应率太低E探头响应率太高
考题
多选题THDS-C探测站中，标准配置的探头的探测方式有（）。A平探B内探C外探D上探E双外探
考题
多选题THDS-C探测站中，热靶电机出现故障可能会造成（）。A不能正确读取板温B不能接车C不能正确测得轴温D不能校光子探头曲线E不能正确读取元温
考题
单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
单选题动态检测试验车检测HZT型外探某探测站Z字板的第一尖峰与第二尖峰的间隔格数偏少，则（）。A
探头仰角偏高B
探头仰角偏低C
探头偏里D
探头偏外
考题
单选题动态检测试验车检测HZT型外探某探测站Z字板的第一尖峰格数偏少，则（）。A
探头仰角偏高B
探头仰角偏低C
探头偏外D
探头偏里
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
多选题THDS-C探测站中，下列哪些温度是可以通过探头采集回来准确的温度数值（）。A环温+10000℃B环温+1000℃C环温+50℃D环温+10℃E环温-10℃
考题
单选题对探头进行系统标定时，如果所得系数与正常值偏离较大，有可能的原因造成是（）A
有可能是阳光干扰，造成探头输出异常，程序计算系数异常B
有可能是系统噪声，造成探头输出异常，程序计算系数异常C
有能是靶温温度发生改变，需要重新做手动热把标定D
有能是环境温度发生改变，需要重新做手动热把标定
