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控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方()

  • A、窗口
  • B、试件前面
  • C、试件边缘
  • D、试件背面

参考答案

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考题 下述哪种情况会增加射线检测试件的内部散射?() A、试件的厚度与长度B、试件的厚度与宽度C、试件的厚度与密度D、试件的厚度、宽度和长度

考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?() A、窗口、空气及地面B、空气、试样和暗盒C、试件前面、边缘和背面D、试样、铅板和墙壁

考题 在射线照相中,最大的散射源来自()。 A、试件的底面B、试件本身C、试件周围的空气D、试件周围物品

考题 射线检测最主要的应用是探测试件内部的宏观()缺陷。

考题 对比度受()影响最大。A、试件厚度差B、射线的质C、散射线D、以上均不对

考题 射线照相时,底片边缘未经直接曝光而出现黑度较高的区域,这是由于试件几何形状不规则引起的。

考题 射线穿过试件时,其强度的减弱程度取决于试件的厚度和材质。

考题 射线照像影像会放大,下面叙述中正确的是()A、射源至试件距离越远,影像放大得越大B、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大,影像放大得越大C、射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小,影像放大得越大D、射源至试件的距离与影像放大无关

考题 要想得到良好的射线照相品质,则()A、射源越小越好B、射源离试件越远越好C、底片离试件越近越好D、以上都对

考题 X射线检测时选择适当底片的考虑依据是()A、试件厚度与材质B、增感屏C、射源能量D、以上都是

考题 底片上的黑暗区域表示()A、钨夹渣B、不易被射线穿透的部分C、易被射线穿透的部分D、试件较厚的部分

考题 实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A、与底片成像相同,黑度较大B、与底片成像相同,黑度较小C、与底片成像不同,黑度较大D、与底片成像不同,黑度较小

考题 射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的,因此影像轮廓会()A、放大B、变形C、模糊D、以上都对

考题 用连续宽束X射线透照试件,试件的厚度越大,则散射比n越大。

考题 用连续宽束X射线透射试件,试件的厚度越大,则散射比n()。

考题 单选题下述哪种情况会增加射线检测试件的内部散射?()A 试件的厚度与长度B 试件的厚度与宽度C 试件的厚度与密度D 试件的厚度、宽度和长度

考题 单选题底片上的黑暗区域表示()A 钨夹渣B 不易被射线穿透的部分C 易被射线穿透的部分D 试件较厚的部分

考题 单选题射线照像是以射线穿透试件而投影在底片上的,因此影像轮廓会()A 放大B 变形C 模糊D 以上都对

考题 单选题射线照像影像会放大,下面叙述中正确的是()A 射源至试件距离越远,影像放大得越大B 射源至试件的距离与试件至底片距离之比越大,影像放大得越大C 射源至试件的距离与试件至底片距离之比越小,影像放大得越大D 射源至试件的距离与影像放大无关

考题 单选题实时射线检测法(RealTimeRT)即利用射线穿过试件而在荧光屏上成像,其气孔处的影像为()A 与底片成像相同,黑度较大B 与底片成像相同,黑度较小C 与底片成像不同,黑度较大D 与底片成像不同,黑度较小

考题 单选题要想得到良好的射线照相品质,则()A 射源越小越好B 射源离试件越远越好C 底片离试件越近越好D 以上都对

考题 判断题射线穿过试件时,其强度的减弱程度取决于试件的厚度和材质。A 对B 错

考题 单选题RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()A 缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件B 增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件C 缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件D 增加射线至底片的距离,且将底片远离试件

考题 单选题X射线检测时选择适当底片的考虑依据是()A 试件厚度与材质B 增感屏C 射源能量D 以上都是

考题 单选题在射线照相中,最大的散射源来自()A 试件的底面B 试件本身C 试件周围的空气D 试件周围物品

考题 单选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?()A 窗口、空气及地面B 空气、试样和暗盒C 试件前面、边缘和背面D 试样、铅板和墙壁

考题 多选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方()A窗口B试件前面C试件边缘D试件背面