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多选题
控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方()
A

窗口

B

试件前面

C

试件边缘

D

试件背面


参考答案

参考解析
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考题 下列哪项能改善底片影像颗粒太粗的问题?()A、选用感光较慢底片及射线穿透力强B、选用感光较慢底片及射线穿透力弱C、选用感光较快底片及射线穿透力强D、选用感光较快底片及射线穿透力弱

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()和()。

考题 小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是:()A、射线穿透力大B、射线底片清晰度好C、射线底片对比度好D、底片密度高

考题 射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求?

考题 在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响。

考题 射线检测底片质量技术等级有哪几种?如何选用?

考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方()A、窗口B、试件前面C、试件边缘D、试件背面

考题 RT底片欲得较真实的缺陷尺寸则应()A、缩小射线至底片的距离,且将底片紧贴试件B、增加射线至底片的距离,且将底片紧贴试件C、缩小射线至底片的距离,且将底片远离试件D、增加射线至底片的距离,且将底片远离试件

考题 与大焦点X射线管相比,小焦点X射线管的优点是()A、发射的射线穿透能力大B、得到的射线底片清晰度好C、得到的射线底片对比度低D、得到的射线底片黑度高

考题 像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。

考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?()A、窗口、空气及地面B、空气、试样和暗盒C、试件前面、边缘和背面D、试样、铅板和墙壁

考题 散射线不影响射线照像底片的对比度而是影响底片的清晰度。

考题 曝光过程中,试样或胶片偶然移动或使用焦距变小()。A、产生射线照相底片对比度低B、不可能检出大缺陷C、产生射线照相底片不清晰D、产生发灰的射线照片

考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采取的措施是()。A、 改用荧光增感屏B、 暗袋后加铅垫板C、 清除工件周围的杂物D、 铅板遮盖工件非透照部分

考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采用的措施是()。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的()、()。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。

考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。

考题 散射线对照相底片的影响主要是降低()、()。

考题 射线底片的评定应由Ⅲ级射线检测人员担任()

考题 单选题下列哪项能改善底片影像颗粒太粗的问题?()A 选用感光较慢底片及射线穿透力强B 选用感光较慢底片及射线穿透力弱C 选用感光较快底片及射线穿透力强D 选用感光较快底片及射线穿透力弱

考题 单选题为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响,经常采取的措施是()。A 改用荧光增感屏B 暗袋后加铅垫板C 清除工件周围的杂物D 铅板遮盖工件非透照部分

考题 单选题与大焦点X射线管相比,小焦点X射线管的优点是()A 发射的射线穿透能力大B 得到的射线底片清晰度好C 得到的射线底片对比度低D 得到的射线底片黑度高

考题 单选题小焦点X射线管比大焦点X射线管的好处是:()A 射线穿透力大B 射线底片清晰度好C 射线底片对比度好D 底片密度高

考题 单选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题,散射线主要来自何方?()A 窗口、空气及地面B 空气、试样和暗盒C 试件前面、边缘和背面D 试样、铅板和墙壁

考题 单选题使用铅箔增感屏时,应令其与胶片紧贴,这样的优点是()A 能更好地使射线激发铅箔而产生电子和二次辐射线,对胶片的感光作用增强而减少曝光时间B 更能使铅箔吸收较长波长的辐射线,从而提高底片的质量C 对一次辐射线的增强比对散射线的增强更大,因而底片质量也就提高了D 以上都是

考题 问答题射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求?