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为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是（）。

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更多 “为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是（）。” 相关考题
考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）和（）。
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考题 以下那一条可以得到更好质量的射线底片（）A、采用较高能量的射线B、较小的焦距C、较小的曝光量D、较大的曝光量
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考题 射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求？
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考题 当用观片灯观察底片时，为了获得更直观的效果，在曝光时采用不同方向摄取两张底片的特殊照相方法，称之为立体射线照相法。
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考题 在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、增大宽容度和减少散射线对底片的影响。
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A、窗口B、试件前面C、试件边缘D、试件背面
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考题 射线底片在定影时应经常翻动的目的是（）A、提高定影速度B、能使定影均匀C、不易使射线底片互相粘迭D、以上都对
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考题 控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）A、窗口、空气及地面B、空气、试样和暗盒C、试件前面、边缘和背面D、试样、铅板和墙壁
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考题 散乱射线的产生及对底片的影响是什么？
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考题 为了得到较高的射线照相对比度，主要应采取的措施是（）A、选用可能的较低能量的射线透照B、采取各种措施减少到达胶片的散射线强度C、选用质量优良的胶片和采用良好的暗室处理技术D、以上都是
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考题 散射线不影响射线照像底片的对比度而是影响底片的清晰度。
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考题 产生散射线对底片质量影响最大的是（）。A、 光电效应B、 康普顿效应C、 电子对效应D、 热效应
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采取的措施是（）。A、 改用荧光增感屏B、 暗袋后加铅垫板C、 清除工件周围的杂物D、 铅板遮盖工件非透照部分
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考题 在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、（）和减少散射线对底片的影响。A、减小宽容度B、增大宽容度C、增大厚度D、减小厚度
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考题 散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的（）、（）。
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考题 为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采用的措施是铅板遮盖工件非透照部分。
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考题 X射线透照探伤，影响底片清晰度的因素是（），（）。
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考题 单选题为了减少来自元件本身散射线对底片质量的影响，经常采取的措施是（）。A 改用荧光增感屏B 暗袋后加铅垫板C 清除工件周围的杂物D 铅板遮盖工件非透照部分
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考题 判断题像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。A 对B 错
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考题 单选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方？（）A 窗口、空气及地面B 空气、试样和暗盒C 试件前面、边缘和背面D 试样、铅板和墙壁
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考题 单选题使用铅箔增感屏时，应令其与胶片紧贴，这样的优点是（）A 能更好地使射线激发铅箔而产生电子和二次辐射线，对胶片的感光作用增强而减少曝光时间B 更能使铅箔吸收较长波长的辐射线，从而提高底片的质量C 对一次辐射线的增强比对散射线的增强更大，因而底片质量也就提高了D 以上都是
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考题 单选题产生散射线对底片质量影响最大的是（）。A 光电效应B 康普顿效应C 电子对效应D 热效应
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考题 单选题射线底片在定影时应经常翻动的目的是（）A 提高定影速度B 能使定影均匀C 不易使射线底片互相粘迭D 以上都对
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考题 单选题为了得到较高的射线照相对比度，主要应采取的措施是（）A 选用可能的较低能量的射线透照B 采取各种措施减少到达胶片的散射线强度C 选用质量优良的胶片和采用良好的暗室处理技术D 以上都是
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考题 问答题散乱射线的产生及对底片的影响是什么？
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考题 问答题射线底片的评定对底片质量有哪些基本要求？
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考题 多选题控制或减少散射线是保证底片质量的关键问题，散射线主要来自何方（）A窗口B试件前面C试件边缘D试件背面
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