考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
考题
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。
考题
对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时，采用的对比试块最好是（）A、IIW2试块B、IIW1试块C、实际工件试块D、任何平底孔试块都可以
考题
用IIW标准试块测定斜探头的折射角度，在探测任何声速的试件时，此值（）。A、不变B、变化C、有条件的变化D、都不对
考题
IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能。
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？
考题
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离，仅能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
问答题我国的CSK－IA试块与IIW试块有何不同？德国和日本对IIW试块作了哪些修改？
考题
问答题试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
问答题国际焊接学会的 IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能？
考题
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A
对B
错
考题
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A
不变B
变化
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离，只能测定直探头盲区的大致范围。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
