考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。（）此题为判断题(对，错)。
考题
下列属于日本标准试块的是()
A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW
考题
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
考题
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。
考题
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
考题
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
考题
分辨力测试：使用2.5P20Z探头和CSK-I试块。
考题
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
考题
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
考题
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
考题
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A
对B
错
考题
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A
对B
错
考题
问答题我国的CSK－IA试块与IIW试块有何不同？德国和日本对IIW试块作了哪些修改？
考题
问答题试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
考题
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A
对B
错
考题
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A
不变B
变化
考题
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A
不变B
变化
考题
单选题70°探头折射角测定应（）。A
在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B
在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C
在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D
在半圆试块上测定
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A
直探头的的远场分辨力B
斜探头的K值C
斜探头的入射点D
斜探头的声束偏斜角
