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改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。

  • A、小焦点大焦距
  • B、大焦点小焦距
  • C、铅箔增感屏
  • D、高度胶片

参考答案

更多 “改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A、小焦点大焦距B、大焦点小焦距C、铅箔增感屏D、高度胶片” 相关考题
考题 底片密度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照得到的底片()。 A、密度大B、衬度最大,灵敏度高C、密度均匀D、几何不清晰度高

考题 底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()。 A、黑度大;B、黑度均匀;C、几何不清晰度高;D、对比度最大,灵敏度高

考题 射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

考题 为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A、射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B、工件厚度,胶片类型,射源类型;C、射源强度,胶片类型,增感屏类型;D、射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

考题 透照容器环焊缝时选择焦距的原则是:采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ;采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug。

考题 透照同一工件,铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。

考题 与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A、宽容度大B、对比度高C、清晰度高D、以上都不对

考题 在小径管透照中,影像各处的几何不清晰度都是一致的。

考题 被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

考题 射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

考题 下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大C、为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距D、为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置

考题 改善透照底片的几何不清晰度可采用()A、小焦点、大焦距透照B、小焦点、小焦距透照C、选细微粒胶片D、铅箔增感

考题 下面关于集合修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正;B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大;C、为提高σ而改变透照布置,常用的方法是增大焦距;D、为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置。

考题 底片对比度是指()。A、底片上两个相邻部位的黑度差B、透照工件相邻部位的厚度差C、胶片反差系数D、清晰度和灵敏度

考题 X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

考题 填空题X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

考题 单选题为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A 射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B 工件厚度,胶片类型,射源类型;C 射源强度,胶片类型,增感屏类型;D 射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

考题 单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 测量底片黑度C 测量几何不清晰度D 衡量透照底片的影像质量

考题 填空题X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 单选题底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()A 黑度大;B 黑度均匀;C 几何不清晰度高;D 对比度最大,灵敏度高

考题 单选题下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A 当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正B σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大C 为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距D 为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置

考题 单选题改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A 小焦点大焦距B 大焦点小焦距C 铅箔增感屏D 高度胶片

考题 单选题改善透照底片的几何不清晰度可采用()A 小焦点、大焦距透照B 小焦点、小焦距透照C 选细微粒胶片D 铅箔增感

考题 单选题与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A 宽容度大B 对比度高C 清晰度高D 以上都不对

考题 单选题控制透照厚度比K值的主要目的是()A 提高横向裂纹检出率;B 减小几何不清晰度;C 增大厚度宽容度;D 提高底片对比度。

考题 单选题之所以要把底片黑度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,是因为在此区域内透照得到的底片()A 黑度大B 黑度最均匀C 几何不清晰度高D 对比度最大