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改善透照底片的几何不清晰度可采用()

  • A、小焦点、大焦距透照
  • B、小焦点、小焦距透照
  • C、选细微粒胶片
  • D、铅箔增感

参考答案

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考题 底片密度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照得到的底片()。 A、密度大B、衬度最大,灵敏度高C、密度均匀D、几何不清晰度高

考题 底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()。 A、黑度大;B、黑度均匀;C、几何不清晰度高;D、对比度最大,灵敏度高

考题 射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

考题 为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A、射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B、工件厚度,胶片类型,射源类型;C、射源强度,胶片类型,增感屏类型;D、射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

考题 控制透照厚度比K值的主要目的是()A、提高横向裂纹检出率;B、减小几何不清晰度;C、增大厚度宽容度;D、提高底片对比度。

考题 透照同一工件,铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。

考题 当固有不清晰度不大于几何模糊度时,只要改善几何模糊度,仍可得到高清晰度的底片。

考题 与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A、宽容度大B、对比度高C、清晰度高D、以上都不对

考题 评价底片照相质量的主要因素是()A、底片黑度B、底片灰雾度C、底片几何不清晰度D、底片的灵敏度E、以上全是

考题 被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

考题 射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

考题 当几何不清晰度选择不当,或胶片与铅箔增感屏接触不良,或者胶片的粒度太大,可能会引起什么结果?()A、底片密度高B、底片清晰度不好C、底片有灰雾D、底片密度低

考题 当固有不清晰度不大于几何不清晰度时,只要改善(),仍可得到高清晰度的底片。

考题 X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

考题 改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A、小焦点大焦距B、大焦点小焦距C、铅箔增感屏D、高度胶片

考题 填空题X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

考题 单选题为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A 射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B 工件厚度,胶片类型,射源类型;C 射源强度,胶片类型,增感屏类型;D 射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

考题 单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A 测量缺陷大小B 测量底片黑度C 测量几何不清晰度D 衡量透照底片的影像质量

考题 填空题X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

考题 问答题被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

考题 单选题底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()A 黑度大;B 黑度均匀;C 几何不清晰度高;D 对比度最大,灵敏度高

考题 单选题改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A 小焦点大焦距B 大焦点小焦距C 铅箔增感屏D 高度胶片

考题 单选题改善透照底片的几何不清晰度可采用()A 小焦点、大焦距透照B 小焦点、小焦距透照C 选细微粒胶片D 铅箔增感

考题 单选题与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A 宽容度大B 对比度高C 清晰度高D 以上都不对

考题 单选题控制透照厚度比K值的主要目的是()A 提高横向裂纹检出率;B 减小几何不清晰度;C 增大厚度宽容度;D 提高底片对比度。

考题 单选题之所以要把底片黑度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,是因为在此区域内透照得到的底片()A 黑度大B 黑度最均匀C 几何不清晰度高D 对比度最大