考题
千分尺的固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线,微分筒圆周上均匀刻有50格。因此,微分筒每转一格时,测微螺杆就移进()mm。
考题
千分尺微分筒上均匀刻有()格。
A、50B、100C、150D、200
考题
测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。
A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
考题
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。
考题
千分尺在微分筒的圆锥面上刻有()条等分的刻线。
A、10B、20C、30D、50
考题
千分尺的固定套筒上刻有间隔为( )的刻线，微分筒圆周上均有刻有50格。因此微分筒每转一格时，测微螺杆就移进( )
考题
千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
考题
在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A、横刻线B、零线C、纵刻线D、没有关系
考题
在圆锥表面上刻等分线，应使圆锥表面的（）与工作台台平行。A、上母线B、侧素线C、轴线
考题
在圆锥表面上刻等分线，应使圆锥表面的（）与工作台台平行。A、上母线B、侧素线C、轴线D、中心线
考题
外径千分尺在微分筒圆周斜面上刻有50个等分的刻度，每个分度表示（）。A、1mmB、0.01mmC、0.1mm
考题
千分尺微分筒圆锥面上刻有（）条等分线。A、10B、20C、25D、50
考题
千分尺的固定套管上刻有纵刻度线，作为微分筒读数的（）.A、分度线B、基准线C、间距线D、公法线
考题
当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
考题
不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
考题
千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。
考题
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
考题
外径千分尺微分筒的圆周上刻有50个等分刻度线，当微分筒每转过1小格，千分尺测微螺杆就（）mm。A、推进或后退了0.1/50=0.002B、推进或后退了0.5/50=0.01C、推进或后退了1.0/50=0.02D、推进或后退了5.0/50=0.1
考题
千分尺固定套筒上刻有间隔为0.5mm的刻线5，微分筒圆周上均匀刻有50格。微分筒每转一格，测微螺杆就移进（）mm。
考题
填空题千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
考题
填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
考题
判断题千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。A
对B
错
考题
判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。A
对B
错
考题
单选题千分尺的固定套管上刻有纵刻度线，作为微分筒读数的（）.A
分度线B
基准线C
间距线D
公法线
考题
问答题不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
考题
单选题在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A
横刻线B
零线C
纵刻线D
没有关系
