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检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定,也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。


参考答案

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考题 测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。 A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线

考题 检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。

考题 检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离,应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。() 此题为判断题(对,错)。

考题 检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离,应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。

考题 千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于()。检定应在微分筒转动一周内不少于()位置上进行。

考题 游标刻线面的棱边至尺身刻线面的距离如何检定?

考题 检定游标刻线面棱边至尺身刻线面的距离是用()塞尺比较检定。A、1级B、2级C、3级

考题 检定游标卡尺或游标深度尺的游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离,是为了控制()

考题 不论哪种千分尺,为什么都要检定微分筒锥面的棱边至固定套管刻线面的距离?

考题 在使用外径千分尺调整零位时,必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合,同时要使微分筒上零线对准固定套管上的()。A、横刻线B、零线C、纵刻线D、没有关系

考题 当外径千分尺的测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时,微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切,若不相切,压线不大于(),离线不大于()。

考题 不论哪种千分尺,为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置?

考题 检定千分尺刻线宽度及刻线宽度差,要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15±0.05mm,刻线宽度差应不大于()A、0.04mmB、0.05mmC、0.06mm

考题 检定游标量具游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离是为了控制()。A、视差B、读数误差C、刻度误差

考题 千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。

考题 检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置,是为了防止()

考题 填空题千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于()。检定应在微分筒转动一周内不少于()位置上进行。

考题 判断题千分尺刻线宽度及宽度差是在工具显微镜上检定。微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽二条刻线。A 对B 错

考题 填空题检定游标卡尺或游标深度尺的游标刻线面的棱边至主尺刻线面的距离,是为了控制()

考题 判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定,也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。A 对B 错

考题 单选题检定游标刻线面棱边至尺身刻线面的距离是用()塞尺比较检定。A 1级B 2级C 3级

考题 填空题检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置,是为了防止()

考题 问答题游标刻线面的棱边至尺身刻线面的距离如何检定?

考题 问答题不论哪种千分尺,为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置?

考题 填空题当外径千分尺的测量下限调整正确后,微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时,微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切,若不相切,压线不大于(),离线不大于()。

考题 问答题不论哪种千分尺,为什么都要检定微分筒锥面的棱边至固定套管刻线面的距离?

考题 单选题在使用外径千分尺调整零位时,必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合,同时要使微分筒上零线对准固定套管上的()。A 横刻线B 零线C 纵刻线D 没有关系