考题
射线照相检测中，缺陷的取向与射线方向（）时，可在底片上获得最清晰的缺陷影像。
考题
在同一张底片上，做两个不同位置的X射线照相，可以确定缺陷的深度，根据缺陷阴影的移动，相对于试样固定标志的图像可以计算出缺陷的深度，这种方法称之为立体射线照相法。
考题
射线照相图象的密度是指：（）A、胶片厚度B、试样厚度C、胶片重量D、胶片黑化度
考题
检出小缺陷地能力叫做（）A、射线照相对比度B、射线照相灵敏度C、射线照相密度D、射线照相分辨率
考题
射线底片上相邻两个部位的黑度差叫做（）A、底片对比度B、工件的对比度C、主因对比度D、清晰度
考题
粒度大的X射线胶片其照相的清晰度比粒度小的胶片差。
考题
射线照相的灵敏度由两个指标来确定，即射线底片的（）度和（）度。
考题
射线照相的灵敏度由射线底片的对比度和清晰度两个指标来确定。
考题
射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（）A、主因反差；B、底片反差；C、清晰度；D、胶片反差。
考题
在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做（）A、条纹B、粒度C、点D、白垢
考题
影响射线照相影像质量因素的主因衬度相关因素包括（）A、试样厚度、成份、密度的差别B、射线的硬度C、散射D、以上都是
考题
射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。
考题
照相上能发现工件中沿射线穿透方向上缺陷的最小尺寸称为：（）。A、照相反差B、照相清晰度C、照相梯度D、照相灵敏度
考题
焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。
考题
大焦点Χ射线机与小焦点Χ射线机相比，其特点是（）A、射线的能量低穿透力小B、射线不集中，强度小C、照相黑度不易控制D、照相清晰度差
考题
射线照相探伤，工件对比度受（）的响。A、工件厚度差B、射线强度C、散热度D、工件材质
考题
判断题射线照相时，不同的投影角度会使工件上不同部位的特征点在底片上的相对位置改变。A
对B
错
考题
单选题影响射线照相影像质量因素的主因衬度相关因素包括（）A
试样厚度、成份、密度的差别B
射线的硬度C
散射D
以上都是
考题
单选题大焦点Χ射线机与小焦点Χ射线机相比，其特点是（）A
射线的能量低穿透力小；B
射线不集中，强度小C
照相黑度不易控制；D
照相清晰度差。
考题
单选题射线底片上相邻两个部位的黑度差叫做（）A
底片对比度B
工件的对比度C
主因对比度D
清晰度
考题
单选题在X射线底片上由于被显影的晶粒分布不均而引起的密度不均匀痕迹叫做（）A
条纹B
粒度C
点D
白垢
考题
单选题射线底片上两个不同区域之间的黑度差叫做（）A
主因反差；B
底片反差；C
清晰度；D
胶片反差。
考题
单选题射线照相上两个部位的密度差叫做（）。A
胶片的对比度B
射线照相的对比度C
被检物体的对比度D
射线照相的清晰度
考题
填空题焊缝射线照相底片上常见缺陷（）、（）、（）和（）。
考题
单选题射线照相探伤，工件对比度受（）的响。A
工件厚度差B
射线强度C
散热度D
工件材质
考题
问答题什么叫干涉面？当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？
考题
单选题检出小缺陷地能力叫做（）A
射线照相对比度B
射线照相灵敏度C
射线照相密度D
射线照相分辨率
