考题
射线照相灵敏度这个概念是用来描述（）的A、射线照片记录、显示细节的能力B、射线照相能够发现的最小缺陷尺寸C、射线照相能够发现最小缺陷能力的定量评价D、以上都对
考题
在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A、在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B、对工件作平移二次照相C、对工件作旋转二次照相D、以上都是
考题
检出小缺陷地能力叫做（）A、射线照相对比度B、射线照相灵敏度C、射线照相密度D、射线照相分辨率
考题
锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A、大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B、锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C、大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D、以上A和B
考题
评价射线照相影像质量最重要的指标是射线照相（）A、灵敏度B、清晰度C、明亮度D、灰雾度
考题
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
考题
射线照相的灵敏度包括（）A、射线照相对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是
考题
γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。
考题
在X射线照相检验中，工件的体积型缺陷，较易被发现
考题
以下哪一种技术适宜检测大厚度物体的近表面缺陷（）A、中子射线照相B、运动中射线照相C、康普顿散射照相D、层析照相
考题
射线照相灵敏度是射线照相（）和（）两大因素的综合结果。
考题
下面哪些因素影响射线照相的几何不清晰度：（）A、工件厚度B、焦点尺寸C、射线能量D、焦距
考题
在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）。A、直接照相法B、间接照相法C、透过照相法D、荧光照相法
考题
散射线对照相底片的影响主要是降低射线照相的清晰度、灰雾度。
考题
从可检测的最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于底片上缺陷影响的对比度。
考题
射线照相上两个部位的密度差叫做（）。A、胶片的对比度B、射线照相的对比度C、被检物体的对比度D、射线照相的清晰度
考题
单选题评价射线照相影像质量最重要的指标是射线照相（）A
灵敏度B
清晰度C
明亮度D
灰雾度
考题
单选题射线照相灵敏度这个概念是用来描述（）的A
射线照片记录、显示细节的能力B
射线照相能够发现的最小缺陷尺寸C
射线照相能够发现最小缺陷能力的定量评价D
以上都对
考题
单选题射线照相的灵敏度包括（）A
射线照相对比度B
不清晰度C
颗粒度D
以上都是
考题
单选题在射线检测中，利用照相机从荧光板上拍摄试验物体影像的方法称为（）A
直接照相法B
间接照相法C
透过照相法D
荧光照相法
考题
判断题γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。A
对B
错
考题
单选题锻件检测一般不采用射线照相法的原因是（）A
大多数锻件厚度较大，射线难以穿透B
锻件中大多数缺陷的方向不利于射线照相法检出C
大多数锻件晶粒粗大影响射线照相灵敏度D
以上A和B
考题
单选题以下哪一种技术适宜检测大厚度物体的近表面缺陷（）A
中子射线照相B
运动中射线照相C
康普顿散射照相D
层析照相
考题
单选题射线照相上两个部位的密度差叫做（）。A
胶片的对比度B
射线照相的对比度C
被检物体的对比度D
射线照相的清晰度
考题
单选题检出小缺陷地能力叫做（）A
射线照相对比度B
射线照相灵敏度C
射线照相密度D
射线照相分辨率
考题
单选题在射线照相中，确定缺陷在工件中深度位置的方法是（）A
在互相垂直的两个方向对工件作二次照相B
对工件作平移二次照相C
对工件作旋转二次照相D
以上都是
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是
