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单选题
关于直接转换型平板探测器结构的描述,错误的是(  )。
A

玻璃基板

B

集电矩阵

C

非晶硒层

D

半导体层

E

顶层电极


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 关于非晶硅平板探测器的叙述,下列错误的是()。A.属于间接转换型平板探测器B.常见的多为碘化铯+非晶硅型C.碘化铯层的晶体直接生长在基板上D.碘化铯针状结构明显增加了X线的伪影E.X线探测、图像采集和读出都是相互独立的过程

考题 关于非晶硒平板探测器的叙述,下列错误的是()。A.使用了光电导材料,能将所吸收的光子转换成电荷B.典型材料为非晶硒(a-Se)C.每个薄膜晶体管(TFT)形成一个采集图像的最小单元D.非晶硒层直接将X线转换成电信号E.与非晶硅探测器的工作原理相同

考题 属于DR成像直接转换方式的部件是A.闪烁体+CCD摄像机阵列 B.非晶硒平板探测器 C.碘化铯+非晶硅探测器 D.半导体狭缝线阵探测器 E.多丝正比电离室

考题 关于DR探测器的类型,错误的是A.非晶硒平板型探测器 B.非晶硅平板型探测器 C.碘化铯平板型探测器 D.多丝正比室扫描DR E.CCD摄像机型DR

考题 关于非晶硒平板探测器的叙述,下列错误的是()A、使用了光电导材料,能将所吸收的光子转换成电荷B、典型材料为非晶硒(a-SE.C、每个薄膜晶体管(TFT)形成一个采集图像的最小单元D、非晶硒层直接将X线转换成电信号E、与非晶硅探测器的工作原理相同

考题 关于非晶硅平板探测器的叙述,下列错误的是()A、属于间接转换型平板探测器B、常见的多为碘化铯+非晶硅型C、碘化铯层的晶体直接生长在基板上D、碘化铯针状结构明显增加了X线的伪影E、X线探测、图像采集和读出都是相互独立的过程

考题 关于直接转换型平板探测器结构的描述,错误的是()A、玻璃基板B、集电矩阵C、非晶硒层D、半导体层E、顶层电极

考题 属于DR成像直接转换方式的部件是()A、闪烁体+CCD摄像机阵列B、非晶硒平板探测器C、碘化铯+非晶硅探测器D、半导体狭缝线阵探测器E、多丝正比电离室

考题 属于DR成像间接转换方式的部件是()A、增感屏B、非晶硒平板探测器C、碘化铯+非晶硅探测器D、半导体狭缝线阵探测器E、多丝正比电离室

考题 关于直接转换型平板探测器工作原理的描述,错误的是()A、入射X线光子在硒层中产生电子-空穴对B、电子和空穴向相顶层电极移动C、信号电流被相应检测单元的接收电极所收集D、储能电容中电荷量与入射X线强度成正比E、采集单元储能电容中积聚的电荷被依次读出

考题 关于间接转换型平板探测器结构的描述,错误的是()A、表面电极B、基板层C、光电二极管D、非晶硅TFT阵列E、碘化铯晶体层

考题 单选题非晶硅平板探测器与非晶硒平板探测器的区别在于(  )。A 信号读出B 荧光材料层和探测元阵列层的不同C A/D转换D 信号输出E 信号放大

考题 单选题非晶硅平板探测器基本结构为(  )。A 碘化铯闪烁体层、硒层和集点矩阵层、行驱动电路、图像信号读取电路B 碘化铯闪烁体层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路C 硒层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路D 非晶硅层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路E 碘化铯闪烁体层、非晶硅光电二极管阵列、硒层和集点矩阵层、图像信号读取电路

考题 多选题关于间接转换型平板探测器结构的叙述,正确的是(  )。A碘化铯晶体层B非晶硅TFT阵列C光电二极管D行驱动电路E表面电极

考题 单选题直接转换型平板探测器中,存储电流信号的元件是(  )。A 极间电容B 光电二极管C 场效应管D 模数转换器E 非晶硒层

考题 单选题属于DR成像间接转换方式的部件是()A 增感屏B 非晶硒平板探测器C 碘化铯+非晶硅探测器D 半导体狭缝线阵探测器E 多丝正比电离室

考题 单选题属于DR成像直接转换方式的部件是()A 闪烁体+CCD摄像机阵列B 非晶硒平板探测器C 碘化铯+非晶硅探测器D 半导体狭缝线阵探测器E 多丝正比电离室

考题 单选题关于间接转换型平板探测器结构的描述,错误的是(  )。A 表面电极B 基板层C 光电二极管D 非晶硅TFT阵列E 碘化铯晶体层

考题 单选题关于探测器说法,不正确的是(  )。A 非晶硒平板探测器的非晶硒层直接将X线转换成电信号B 太厚的非晶硒会导致其他伪影的产生C 伪影的程度取决于X线被吸收前在非晶硒内前行的距离D 探测器的设计在X线捕获和电子信号之间不产生折中E 图像持留时间限制了图像的采集速度,这对全自动曝光技术带来了负面效应

考题 单选题间接转换型平板探测器的组成不包括(  )。A 基板层B 光电二极管C 非晶硅TFT阵列D 碘化铯晶体层E 集电矩阵

考题 单选题关于直接转换型平板探测器工作原理的描述,错误的是(  )。A 入射X线光子在硒层中产生电子-空穴对B 电子和空穴向相顶层电极移动C 信号电流被相应检测单元的接收电极所收集D 储能电容中电荷量与入射X线强度成正比E 采集单元储能电容中积聚的电荷被依次读出

考题 单选题集点矩阵层中包含的TFT是(  )。A 薄膜晶体管B 发光晶体管C 非晶硒D 非晶硅E 氢化非晶硅

考题 单选题关于非晶硅平板探测器的叙述,下列错误的是()A 属于间接转换型平板探测器B 常见的多为碘化铯+非晶硅型C 碘化铯层的晶体直接生长在基板上D 碘化铯针状结构明显增加了X线的伪影E X线探测、图像采集和读出都是相互独立的过程

考题 单选题下列属于DR成像间接转换方式的部件是(  )。A 闪烁体B 非晶硒平板探测器C CCD摄像机阵列D 碘化铯+非晶硅探测器E 半导体狭缝线阵列探测器

考题 单选题DR探测器的主要结构为(  )。A 导电层和保护层B 顶层电极、电介层和高压电源C 硒层和集点矩阵层D 玻璃衬底层和输入/输出电路E 硒层和高压电源

考题 多选题DSA非晶硅平板探测器的构成。()A碘化铯构成的闪烁体层BCCD层C信号读出电路D石英玻璃衬体E非晶硅薄膜晶体管阵列层

考题 单选题关于非晶硒平板探测器的叙述,下列错误的是()A 使用了光电导材料,能将所吸收的光子转换成电荷B 典型材料为非晶硒(a-SE.C 每个薄膜晶体管(TFT)形成一个采集图像的最小单元D 非晶硒层直接将X线转换成电信号E 与非晶硅探测器的工作原理相同