考题
描述成像系统分辨率特性的重要参量是A、NEQ、DQEB、MTFC、RMS、WSD、ROCE、SNR
考题
EDFA的基本特性有哪些（）。A、放大特性B、增益特性C、输出功率特性D、噪声特性
考题
关于RMS的说法不正确的是（）A、描述噪声特性B、测量RMS需要显微密度计C、可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性D、RMS越大，系统噪声越小E、RMS可以评价照片斑点
考题
下述哪些是影响数字成像系统噪声的因素（）。A、X线量子波动B、探测器因素C、电子电路D、被照体结构E、胶片的结构
考题
关于RMS的说法正确的是（）。A、描述噪声特性B、测量RMS需要显微密度计C、可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性D、RMS越大，系统噪声越大E、以上都不对
考题
下述哪些是描述数字成像系统噪声特性的（）。A、RMSB、WSC、OTFD、ACFE、NEQ
考题
下述哪项是描述成像系统噪声特性的（）A、PSFB、LSPC、OTFD、LP/mmE、DQE
考题
MTF是从（）发展而来的，并借用了无线电通讯中“调制”的概念而成的，是描述成像系统（）特性的重要参量。
考题
在数字印前系统中，各种成像设备具有不同的颜色空间，均可采用ICC组织提出的特性文件加以描述。
考题
CT成像原理利用的是（）A、多方位成像特性B、横断面图像显示特性C、X线的吸收衰减特性D、数据采集系统（DAS）特性E、X线透过被照体之后的直进性
考题
单选题描述成像系统分辨率特性的重要参量是A
B
C
D
E
考题
多选题下述哪些是描述成像系统噪声特性的（）。ARMSBWSCOTFDACFENEQ
考题
单选题描述成像系统分辨率特性的重要参量是（）A
NEQ、DQEB
MTFC
RMS、WSD
ROCE
SNR
考题
单选题下述哪项不是描述成像系统噪声特性的（）A
RMSB
WSC
OTFD
ACFE
DQE
考题
单选题CT成像原理利用的是（）A
多方位成像特性B
横断面图像显示特性C
X线的吸收衰减特性D
数据采集系统（DAS）特性E
X线透过被照体之后的直进性
考题
多选题下述哪些是影响数字成像系统噪声的因素（）AX线量子波动B探测器因素C电子电路D被照体结构E胶片的结构
考题
多选题关于RMS的说法正确的是（）。A描述噪声特性B测量RMS需要显微密度计C可以用于比较不同屏-片组合的噪声特性DRMS越大，系统噪声越大E以上都不对
考题
填空题MTF是从（）发展而来的，并借用了无线电通讯中“调制”的概念而成的，是描述成像系统（）特性的重要参量。
