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考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。

  • A、 被检工件厚度太大
  • B、 工件底面与检测面不平行
  • C、 耦合剂有较大声能损耗
  • D、 工件与试块材质、表面光洁度有差异

参考答案

更多 “考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A、 被检工件厚度太大B、 工件底面与检测面不平行C、 耦合剂有较大声能损耗D、 工件与试块材质、表面光洁度有差异” 相关考题
考题 选择检测剂时，首先考虑的是灵敏度。
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考题 用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，下列哪种说法正确（）A、可以不考虑探伤面的声能损失补偿B、可以不考虑材质衰减的补偿C、可以不使用校正试块D、以上都是
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考题 用底波法校准锻件检测灵敏度与实际扫查在同一面上，可不用考虑表面耦合补偿。
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考题 利用试块法校准检测灵敏度的优点是（）。A、 校准方法简单B、 适用对缺陷小于3N的锻件C、 可以克服检测面形状对灵敏度的影响D、 不必考虑材质差异
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考题 以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A、不考虑探伤面耦合差的补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不必使用试块D、以上都对
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考题 用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 （）。     A、 可不考虑检测耦合差补偿B、 缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C、 可不使用试块D、 缺陷定量可不考虑衰减差修正
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考题 考虑灵敏度补偿的理由是（）A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、工件与试块材质，表面光洁度有差异
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考题 在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A、不考虑探伤面的声能损失补偿B、不考虑材质衰减的补偿C、不使用校正试块D、以上都是
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考题 选取内窥镜视场角度时的考虑因素包括（）A、检测区尺寸B、检测区的纵深C、检测灵敏度D、以上都是
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考题 超声探伤，被检工件厚度大，应考虑灵敏度补偿。
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考题 采用试块法调节探伤灵敏度时，应考虑进行（）补偿和材质衰减补偿。
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考题 超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A、被检工件厚度太大B、工件底面与探测面不平行C、耦合剂有较大声能损耗D、曲面工件E、工件与试块材质、表面状态不同
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考题 以工件底面作为灵敏度校正基准，可以（）A、不考虑探测面的耦合差补偿B、不考虑材质衰减差补偿C、不必使用校正试块D、以上都是
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考题 单选题用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，下列哪种说法正确（）A 可以不考虑探伤面的声能损失补偿B 可以不考虑材质衰减的补偿C 可以不使用校正试块D 以上都是
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考题 多选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时，可以（）。A不考虑探伤面的声能损失补偿B不考虑材质衰减的补偿C不使用校正试块D以上都不行
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考题 单选题在超声波检测法中，用工件底面作为探伤灵敏度校正基准时可以：（）A 不考虑探伤面的声能损失补偿B 不考虑材质衰减的补偿C 不使用校正试块D 以上都是
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考题 判断题超声探伤，被检工件厚度大，应考虑灵敏度补偿。A 对B 错
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考题 单选题用底波调节法校准锻件检测灵敏度时,下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的。 （）。A  可不考虑检测耦合差补偿B  缺陷定量可采用计算法或AVG曲线法C  可不使用试块D  缺陷定量可不考虑衰减差修正
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考题 单选题以工件底面作为灵敏度校正基准时可以（）。A 不考虑探伤面耦合差的补偿B 不考虑材质衰减的补偿C 不必使用试块D 以上都对
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考题 单选题以工件底面作为灵敏度校正基准，可以（）A 不考虑探测面的耦合差补偿B 不考虑材质衰减差补偿C 不必使用校正试块D 以上都是
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考题 单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是（）。A  被检工件厚度太大B  工件底面与检测面不平行C  耦合剂有较大声能损耗D  工件与试块材质、表面光洁度有差异
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考题 填空题采用试块法调节探伤灵敏度时，应考虑进行（）补偿和材质衰减补偿。
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考题 单选题考虑检测灵敏度补偿的理由是：（）A 被检工件厚度太大B 耦合剂有较大声能损耗C 工件与试块材质、表面粗糙度有差异D 工件底面与检测面不平行
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考题 多选题超声检测中考虑灵敏度补偿可能的理由是（）。A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行C耦合剂有较大声能损耗D曲面工件E工件与试块材质、表面状态不同
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考题 单选题考虑灵敏度补偿的理由是（）A 被检工件厚度太大B 工件底面与探测面不平行C 耦合剂有较大声能损耗D 工件与试块材质，表面光洁度有差异
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考题 判断题用底波法校准锻件检测灵敏度与实际扫查在同一面上，可不用考虑表面耦合补偿。A 对B 错
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考题 单选题选取内窥镜视场角度时的考虑因素包括（）A 检测区尺寸B 检测区的纵深C 检测灵敏度D 以上都是
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