考题
数控机床进给伺服系统的负载不大,加工精度不高时,可采用()控制。
A、全闭环B、半闭环C、开环
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）A、位置控制器；B、检测单元；C、伺服驱动器；D、控制对象。
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A、全闭环B、半闭环C、开环D、混合闭环
考题
半闭环进给伺服系统数控机床，其定位精度主要取决于（）A、伺服单元B、检测装置的精度C、机床传动机构的精度D、控制系统E、数控装置
考题
闭环进给伺服系统与开环进给伺服系统主要区别在于（）。A、是否安装位置检测装置B、是否采用交流伺服电机C、是否具备刀具补偿功能D、是否采用不同的数控系统
考题
对于半闭环的进给伺服系统，可采用（）、（）、（）作为检测装置。
考题
带有位置检测装置的进给系统一定是半闭环进给伺服系统。
考题
（）的位置检测点直接对工作台的实际位置进行检测。A、开环数控系统B、半闭环数控机床进给伺服系统C、闭环进给伺服系统D、开环进给伺服系统
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、位置控制器B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
考题
闭环进给伺服系统比开环进给伺服系统比多一个（）。
考题
开环进给伺服系统比闭环进给伺服系统多一个反馈装置。
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统的主要区别在于（）。A、检测单元B、伺服单元C、位置控制器D、控制对象
考题
对于闭环的进给伺服系统，可采用作为检测装置（ ）。A、增量式编码器B、绝对式编码器C、旋转式感应同步器D、长光栅
考题
数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制A、全闭环B、半闭环C、开环D、传动链
考题
（）进给伺服系统不需要测量装置。A、开环B、半闭环C、全闭环D、以上都需要
考题
闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A、数控单元B、检测单元C、伺服单元D、控制对象
考题
判断题闭环进给伺服系统必须采用绝对式检测装置。A
对B
错
考题
单选题（）进给伺服系统不需要测量装置。A
开环B
半闭环C
全闭环D
以上都需要
考题
判断题半闭环进给伺服系统只能采用增量式检测装置。A
对B
错
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环
考题
单选题数控机床进给伺服系统的负载不大，加工精度不高时，可采用（）控制。A
全闭环B
半闭环C
开环D
以上皆可
考题
单选题闭环进给伺服系统与半闭环进给伺服系统主要区别在于（）。A
位置控制器B
控制对象C
伺服单元D
检测单元
