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在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。

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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
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考题 简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？
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考题 X射线荧光采用内标法分析时选择内标的原则有哪些？
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考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
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考题 在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
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考题 原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
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考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
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考题 X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
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考题 X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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考题 在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
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考题 铁矿石X射线荧光熔融法中内标用的是（）。A、射线管Rh靶线B、Okα线C、Cokα线D、Cokβ
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考题 在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
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考题 X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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考题 X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
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考题 进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
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考题 X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
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考题 用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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考题 单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A 内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B 内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C 内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D 两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
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考题 问答题进行X射线荧光定量分析时，可采用内标法，内标物与其它色谱法中的内标物有哪两个不同的特殊要求？
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考题 问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
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