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X射线透过有缺陷处的强度比无缺陷处的强度大,因而,射线作用在胶片上使胶片感光的程度()。  

  • A、较弱
  • B、较强
  • C、很弱

参考答案

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考题 在进行射线检测时,有缺陷部位的射线强度()无缺陷部位,底片暗房处理后的黑度较大。 A、低于B、等于C、高于

考题 在X射线管和胶片距离的1/2处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来做什么的?() A、测量中心射线的强度B、过滤散射线C、测定焦点的大致尺寸D、测量软化X射线的能量

考题 桩身缺陷越严重,缺陷处透射波强度越弱。

考题 钻芯法截取混凝土芯样做抗压强度试验,当同一基桩的钻芯孔数大于1个,发现其中1孔在某深度存在缺陷,应在()截取芯样进行混凝土抗压强度试验。A、最近桩其他孔同深度处B、该桩该孔缺陷以下1m处C、该桩该孔缺陷以上1m处D、该桩其他孔同深度处

考题 从底片上测得缺陷的黑度为3.0,无缺陷处的黑度为2.0,已知散射比n=2,μ=3cm-1,黑度在1.2∽3.0范围内胶片特性曲线的r=3.5,若忽略缺陷对射线的吸收,求缺陷沿射线方向的尺寸(保留小数点后两位)

考题 下列关于漏磁通的叙述,正确的是()A、内部缺陷处的漏磁通比同样大小的表面缺陷漏磁通大B、缺陷的漏磁通通常与试件上的磁场强度成反比C、表面缺陷的漏磁通密度,随离开表面的距离增大而急剧下降D、用有限线圈磁化长的工件,不需要进行分段磁化

考题 当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响。

考题 射线摄影胶片的光密度D=lgI0/I,下列说法()对。A、I0为投影到胶片曝光点上X射线的强度B、I为投影到胶片曝光点上X射线的强度C、胶片越黑的地方,光密度D越大

考题 X射线摄影胶片的光密度D=lgI0/I,,下列说法哪个对()。A、I0为投影到胶片曝光点上X射线的强度B、I为投影到胶片曝光点上X射线的强度C、胶片越黑的地方,光密度D越大

考题 X线透过被照体之后形成的X线强度的差异称为()A、人工对比B、天然对比C、射线对比度D、胶片对比度E、照片对比度

考题 渗透探伤是利用()来发现和显示缺陷的。A、某些液体的渗透性B、脉冲超声波传人工件后反射回来的脉冲波形C、X射线通过焊缝后射线强度不同,在胶片上有深浅不同的影像D、在强磁场中,铁磁材料表层缺陷产生的漏磁场吸附磁粉的现象

考题 X射线透过有缺陷处的强度比无缺陷处的强度大,因而,射线作用在胶片上使胶片感光的程度()。A、较弱B、较强C、很弱D、不确定

考题 射线探伤胶片经显影后,有缺陷处应较()。A、白B、灰C、黑

考题 X射线检验后,在照相胶片上深色影像的焊缝中所显示较白的斑点和条纹即是缺陷。

考题 下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的A、磁化强度为一定时,缺陷高度小于1mm的形状相似的表面缺陷,其漏磁通与缺陷高度无关B、缺陷离试件表面越近,缺陷漏磁通越小C、在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响D、交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小E、当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响F、c,d和e都对

考题 下列关于漏磁场的叙述,正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B、缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C、表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D、有缺陷的试件,才会产生漏磁场

考题 在X射线管窗口处加装滤光板可以使X射线强度均匀化。

考题 下列有关缺陷所形成的漏磁通的叙述()是正确的。A、 在磁化状态、缺陷种类和大小为一定时,缺陷漏磁通密度受缺陷方向影响B、 交流磁化时,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时要小C、 当磁化强度、缺陷种类和大小为一定时,缺陷处的漏磁通密度受磁化方向的影响D、 以上都对

考题 X线透过被照体后形成的X线强度的差异,称为()。A、人工对比度B、天然对比度C、X线射线对比度D、胶片对比度E、照片对比度

考题 缺陷处反射波强烈程度与()因素有关。A、波速B、距桩顶距离C、缺陷的程度D、混凝土强度

考题 单选题X射线摄影胶片的光密度D=lgI0/I,,下列说法哪个对()。A I0为投影到胶片曝光点上X射线的强度B I为投影到胶片曝光点上X射线的强度C 胶片越黑的地方,光密度D越大

考题 单选题在X射线管和胶片距离的1/2处放置一块用高密度材料制成并钻有小孔的板,这是用来做什么的?()A 测量中心射线的强度B 过滤散射线C 测定焦点的大致尺寸D 测量软化X射线的能量

考题 单选题下列关于漏磁场的叙述,正确的是:()A 内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B 缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C 表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D 有缺陷的试件,才会产生漏磁场

考题 单选题X线透过被照体之后形成的X线强度的差异称为()A 人工对比B 天然对比C 射线对比度D 胶片对比度E 照片对比度

考题 判断题桩身缺陷越严重,缺陷处透射波强度越弱。A 对B 错

考题 单选题射线摄影胶片的光密度D=lgI0/I,下列说法()对。A I0为投影到胶片曝光点上X射线的强度B I为投影到胶片曝光点上X射线的强度C 胶片越黑的地方,光密度D越大

考题 问答题从底片上测得缺陷的黑度为3.0,无缺陷处的黑度为2.0,已知散射比n=2,μ=3cm-1,黑度在1.2∽3.0范围内胶片特性曲线的r=3.5,若忽略缺陷对射线的吸收,求缺陷沿射线方向的尺寸(保留小数点后两位)