考题
发射光谱分析中光源的作用是()。
A、发光照明试样B、蒸发和激发试样C、给试样导电D、分光
考题
直读光谱法中，分析试样的表面光洁度越高越好。
考题
ARL直读光谱分析试样组成结构状态有哪些影响？
考题
不同的取样器会对直读光谱分析的精度和准确性产生影响，包括取出试样的质量和样摸带入的污染等。如何做此方面的实验对比？
考题
光电直读光谱仪中，若光源为ICP，测定时的试样是（）A、固体；B、粉末；C、溶液；D、不确定
考题
ARL3460/4460直读光谱试样激发操作时应注意哪些事项？
考题
试样软化点在80℃以下者，应将装有试样的试样环连同试样底板置于5℃±0.5℃水的恒温水槽中至少（）min。A、15B、30C、60D、90
考题
试样软化点在80℃以上者，应将装有试样的试样环连同试样底板置于32℃±1℃（）的恒温水槽中至少15minA、水B、甘油C、盐水D、煤油
考题
光电直读光谱和X射线萤光光谱分析都属于（）分析法。
考题
X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A、电极污染B、强光直射C、试样表面没有打磨D、以上都是
考题
不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A、看谱分析B、手持X射线荧光光谱分析C、手持激光诱导击穿光谱分析D、光电直读光谱分析
考题
采用光电光谱法分析钢铁试样，应在试样中心处激发。
考题
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
考题
在光谱分析中，试样激发不好的原因是（）A、样品表面有眼、有油、有水份B、氩气纯度不够或未经净化C、漏气D、ABC三项
考题
光谱分析首先将试样（），然后再分光进行定性或定量分析。A、蒸发、激发B、雾化、离子化C、分子化D、雾化
考题
试样的组织结构对光电直读光谱分析有什么影响？怎样消除？
考题
光电直读光谱仪在（）气氛下产生火花放电来激发试样。A、氮气B、氩气C、氧气D、PR气
考题
从模具中取出的锥形试样，一般在高度方向的（）处截取样品进行直读光谱分析。A、下端1/3处B、1/2处C、上端1/3处
考题
在红外光谱分析中，为什么用KBr制作为试样池？
考题
试样软化点在80℃以下者，应将装有试样的试样环连同试样底板置于5℃±0.5℃（）的恒温水槽中至少15min。A、水B、甘油C、盐水D、煤油
考题
达西定律中的面积A是（）。A、试样的总截面积B、试样截面的土颗粒面积C、试样截面的孔隙面积D、测压管截面积
考题
单选题试样软化点在80℃以下者，应将装有试样的试样环连同试样底板置于5℃±0.5℃水的恒温水槽中至少（）min。A
15B
30C
60D
90
考题
单选题试样软化点在80℃以上者，应将装有试样的试样环连同试样底板置于32℃±1℃（）的恒温水槽中至少15min。A
水B
甘油C
盐水D
煤油
考题
单选题X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A
电极污染B
强光直射C
试样表面没有打磨D
以上都是
考题
单选题不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是（）A
看谱分析B
手持X射线荧光光谱分析C
手持激光诱导击穿光谱分析D
光电直读光谱分析
