考题
偏光显微镜的特点是A、双目镜筒中的左右两光束不平行B、不可选用复消色差物镜C、光源是红外光D、光源是紫外光E、聚光镜和光源颠倒放置
考题
红外线气体分析仪的基本元件有：（）A、光源B、气室C、检测器D、切光器
考题
红外分析仪发送器部分的红外辐射光源部分主要部件是（）。A、辐射源B、测量气室C、滤光气室D、参比气室
考题
与双光路红外分析仪相比单光路红外分析仪采用一个光源，参比测量共用一个光学通路，使其具有（）优点。A、结构简单B、可靠性高C、耐振性好D、灵敏度高
考题
红外线气体分析仪参比气室漏气，仪表示值会有什么变化？
考题
双光路红外线分析仪中干涉滤光片、滤波气室的作用是（）。A、去掉干扰组分B、增加光强C、平衡气路D、光路平衡
考题
红外线分析仪使用的气室有（）。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室
考题
双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器，其接受气室要充有（）气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体
考题
使用抛物面反射镜时，如将光源置于焦点上，反射光束为（）光束。A、扩散B、平行C、汇聚D、交叉
考题
荧光显微镜（）。A、光源是红外光B、双目镜筒中的左右两光束不平行C、光源是紫外光D、不可选用复消色差物镜E、物镜、聚光镜和光源颠倒放置
考题
在分光光度法中，需要消除参比溶液和被测溶液之间的混浊度和组成上的差别，可采用（）分光光度计。A、单光束B、双光束C、双波长D、单波长
考题
红外分析仪在调整相位平衡、光路平衡之前必须要先预热，在通（）的情况下进行调节。A、零点气B、量程气C、参比气D、工艺气
考题
红外线分析仪测量气室或晶片被污染后，使仪器灵敏度下降，测量误差增大，在清洗气室及窗口晶片时，要选择相应的清洗剂，严禁破坏（）的光滑度。A、切光片B、气室内壁C、晶片D、参比室
考题
单光路红外分析仪为了防止强干扰组分的严重影响，进一步提高选择性，在测量气室前面要设置（）。A、滤波气室B、同步电机C、干涉滤光片D、光源发射器
考题
在干扰组分浓度高或与待测组分特征吸收波长交叉较多时，红外线分析仪一般采用（）进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室
考题
红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
考题
红外线分析仪在使用中灵敏度不断下降，主要原因有检测电容漏气、电子线路放大转换器老化、（）、光源及射镜污染。A、参比室污染B、滤波室漏气C、光源器件老化D、样品流量小
考题
调整红外分析仪参比光路上的偏心遮光片（也称挡光板、光闸），改变参比光路的光通量，使测量、参比两光路的光能量相等。这种调整属于（）。A、相位平衡调整B、光路平衡调整C、零点校准D、量程校准
考题
当干扰组分较多或进行微量分析时，红外线分析仪一般采用（）进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室
考题
相位调整的目的是使光同步，即切关片同时遮挡或同时离开红外光源，使测量边和参比边的光能相等，仪表校零时输出为（）。
考题
双光路红外分析仪有干扰组分存在时通常在测量气室前加（），用来克服背景气体的干扰。A、参比气室B、滤波气室C、过滤器组件D、相位调整器
考题
双光束分光光度计比单光束分光光度计的主要优点是（）。A、测定时光源强度变化对测定无影响B、测定时不需要参比吸收池C、结构简单D、便于操作
考题
红外线气体分析仪红外光源经切光装置分别进入工作气室和参比气室进行比较，参比气室中充入对红外线不吸收的（）。A、氧气B、氮气C、一氧化碳D、二氧化碳
考题
单道单光束型和单道双光束型原子吸收光度计的区别在于（）A、光源B、原子化器C、检测器D、切光器
考题
单道单光束型与单道双光束型原子吸收光度计的区别在于（）A、光源B、原子化器C、检测器D、切光器
考题
单选题单道单光束型与单道双光束型原子吸收光度计的区别在于（）A
光源B
原子化器C
检测器D
切光器
考题
单选题单道单光束型和单道双光束型原子吸收光度计的区别在于（）A
光源B
原子化器C
检测器D
切光器
