考题
红外线气体分析仪的基本元件有：（）A、光源B、气室C、检测器D、切光器
考题
红外分析仪发送器部分的红外辐射光源部分主要部件是（）。A、辐射源B、测量气室C、滤光气室D、参比气室
考题
红外线气体分析仪参比气室漏气，仪表示值会有什么变化？
考题
双光路红外线分析仪中干涉滤光片、滤波气室的作用是（）。A、去掉干扰组分B、增加光强C、平衡气路D、光路平衡
考题
红外线分析仪使用的气室有（）。A、参比气室B、检测器气室C、滤波气室D、测量气室
考题
双光路红外分析仪通常采用薄膜检测器，其接受气室要充有（）气体。A、待测气B、氮气C、参比气体D、少量惰性气体
考题
单光路红外分析仪在切光片上装有两组（），用来将红外光源调制成两组不同波长范围的光束，分别作为测量光束与参比光束。A、滤波气室B、参比气室C、干涉滤光片D、光源反射镜
考题
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪灵敏度下降。A、测量气室漏气B、检测器电容短路C、检测器漏气D、测量气室被污染
考题
红外线分析仪测量气室或晶片被污染后，使仪器灵敏度下降，测量误差增大，在清洗气室及窗口晶片时，要选择相应的清洗剂，严禁破坏（）的光滑度。A、切光片B、气室内壁C、晶片D、参比室
考题
在干扰组分浓度高或与待测组分特征吸收波长交叉较多时，红外线分析仪一般采用（）进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室
考题
红外线分析仪参比气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、混合气体
考题
当红外线分析仪采用滤波气室时，滤波气室内封装（）气体。A、测量气体B、干扰组分C、中性气体D、氮气
考题
红外线气体分析仪在检测过程中环境温度的变化可能对（）造成影响。A、红外辐射的强度B、测量气室连续流动的气样密度C、检测器的正常工作D、气样放空流速
考题
红外线气体分析仪产生回程的原因是（）。A、检测器故障B、测量室污染C、测量光路比参比光路的光强D、参比光路比测量光路的光强
考题
在线红外线气体分析仪的测量气室脏了用什么清洗？
考题
红外线分析仪中，待测组分外的其他组分都叫（）。A、参比气体B、载气C、背景气体D、稀释气
考题
下列选项中，（）会造成红外线气体分析仪指示回零。A、切光片松动B、检测器电容短路C、测量气室漏气D、光路透镜污染
考题
当干扰组分较多或进行微量分析时，红外线分析仪一般采用（）进行滤波。A、参比气室B、干涉滤光片C、滤波气室D、测量气室
考题
双光路红外分析仪有干扰组分存在时通常在测量气室前加（），用来克服背景气体的干扰。A、参比气室B、滤波气室C、过滤器组件D、相位调整器
考题
不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A、废气取样装置B、废气分析装置C、浓度指示装置
考题
用非分散红外法测定环境空气和固定污染源排气中一氧化碳时，红外线气体分析器中的测量气室可连续通过被测气体，而参比气室是充以不吸收被测组分的特征红外光的气体。
考题
对红外线气体分析器进行校正时，用标准气对参比气室进行校正。
考题
AR202N测量室的参比气室充有（）A、吸收红外线辐射气体B、不吸收红外线辐射的惰性气体C、待测气体D、干扰气体
考题
微量红外线分析器的气室比常量红外线分析器的气室要短。
考题
判断题用非分散红外法测定环境空气和固定污染源排气中一氧化碳时，红外线气体分析器中的测量气室可连续通过被测气体，而参比气室是充以不吸收被测组分的特征红外光的气体。A
对B
错
考题
判断题对红外线气体分析器进行校正时，用标准气对参比气室进行校正。A
对B
错
考题
单选题不分光红外线气体分析仪中，由红外线光源、气样室、旋转扇轮（截光器）、测量室和传感器等组成的是（）。A
废气取样装置B
废气分析装置C
浓度指示装置
