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通常可用来做X射线荧光分光晶体的是()。

  • A、NaF
  • B、NaCl
  • C、LiF

参考答案

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考题 具有将X射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。 A、计数器B、放大器C、分光晶体D、光栅

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的分光元件一般是()A、光栅B、棱镜C、晶体

考题 为什么要求X射线荧光仪分光室处于真空状态?

考题 柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装()五块衍射晶体。A、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1B、LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX2C、LiF(200)、LiF(420)、Ge(111)、PE(002)、PX1D、InSb、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1

考题 测P时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、Ge111C、LiF200D、PE002

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤素盐棱镜

考题 下列离子晶体中,晶格能最大的是()A、NaFB、NaClC、NaBrD、NaI

考题 X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

考题 X射线荧光仪晶体的衍射和可见光的光学反射意义相同。

考题 波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

考题 X射线荧光光谱仪采用()作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

考题 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤化物棱镜

考题 X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。

考题 在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是()。A、分光晶体B、探测器C、波高分析器D、放大器

考题 利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光()A、LiF220B、LiF200C、Ge111D、PE002

考题 X射线荧光分析中分光元件是()。A、棱镜B、光栅C、分光晶体D、光电倍增管

考题 在X射线荧光光谱仪的正比计数管中,甲烷可用来做()。

考题 X射线荧光光谱仪分光方法有()和(),分别用平晶和弯晶分光。

考题 具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是()。A、计数器B、放大器C、分光晶体D、测角仪

考题 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

考题 以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2θ角10°扫描到145°,可测定的X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα9.889Å)?

考题 用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是:()A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X,射线波长秀短,在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应

考题 实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。A、X射线衍射仪B、721分光光度计C、X射线荧光分析仪D、气相色谱

考题 X-荧光波谱分析仪(品位仪)的分光元件一般是晶体。

考题 问答题以LiF(200)作为分光晶体,检测器从2θ角10°扫描到145°,可测定的X射线光谱波长范围为多少?镁是否能被检测(镁的Kα9.889Å)?

考题 单选题用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A X射线透射学;B X射线衍射学;C X射线光谱学