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对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是()

  • A、从底片两侧观察该迹象是否表面反光
  • B、视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤
  • C、用放大镜作局部观察
  • D、核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况
  • E、以上都是

参考答案

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考题 射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 射线检验能从底片上直接判断出缺陷种类,而超声波检验判断缺陷的种类较难。

考题 在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是()。A、裂纹B、点状夹渣C、气孔D、增感屏剥落造成伪缺陷

考题 底片上常见伪缺陷产生的原因是什么?

考题 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。

考题 什么是伪缺陷?简述底片上伪缺陷的来源。

考题 利用照相法进行射线探伤,底片上缺陷的形状和大小与真实缺陷是完全一样的。

考题 从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是

考题 从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是

考题 夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状

考题 如果胶片的γ值小,底片上缺陷图像的对比度就()。

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的影像清晰度差。

考题 ()对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。

考题 厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。

考题 X射线照相灵敏度取决于()。A、底片上缺陷影响的不清晰度B、底片黑度C、曝光时间D、以上都对

考题 在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是增感屏剥落造成伪缺陷。

考题 焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。

考题 焊接缺陷在射线底片上呈现不同程度的黑色,较黑的斑点和条纹即是缺陷。若底片上多呈现带曲折的、波浪状的黑色条纹即是()缺陷。A、未焊透B、夹渣C、裂纹

考题 单选题从可检出最小缺陷的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A 底片成象颗粒度B 底片上缺陷图像不清晰度C 底片上缺陷图像对比度D 以上都是

考题 问答题底片上常见伪缺陷产生的原因是什么?

考题 判断题夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状A 对B 错

考题 单选题焊接缺陷在射线底片上呈现不同程度的黑色,较黑的斑点和条纹即是缺陷。若底片上多呈现带曲折的、波浪状的黑色条纹即是()缺陷。A 未焊透B 夹渣C 裂纹

考题 单选题在焊缝射线底片上呈圆形或椭圆形边缘清晰的黑点可能是()。A 裂纹B 点状夹渣C 气孔D 增感屏剥落造成伪缺陷

考题 单选题对底片上怀疑是伪缺陷迹象的判别方法是()A 从底片两侧观察该迹象是否表面反光B 视线与底片平面法线成较大的角度观察是否底片划伤C 用放大镜作局部观察D 核查被透照工件实物表面与所用增感屏情况E 以上都是

考题 填空题焊缝射线照相底片上常见缺陷()、()、()和()。

考题 填空题射线照相检测中,缺陷的取向与射线方向()时,可在底片上获得最清晰的缺陷影像。

考题 单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说,射线照相灵敏度取决于()A 胶片粒度B 底片上缺陷影像的不清晰度C 底片上缺陷影像的对比度D 以上都是