考题
如果工件中存在厚度差，那么射线穿透工件后，不同厚度部位的透过射线的强度就会不同，曝光后暗室处理得到的底片上不同部位就会产生不同（）A、黑度B、对比度C、不清晰度D、亮度
考题
下述哪一项不是改变底片几何不清晰度的因素？（）A、射源至底片距离B、焦点大小C、底片的黑度D、试件厚度变化
考题
源尺寸、工件厚度和源到工件距离这三个因素决定着：（）A、底片密度B、底片曝光量C、胶片尺寸D、底片的不清晰度
考题
下列哪项不是底片清晰度变差的原因？（）A、增感屏与底片接触不良B、底片颗粒大C、底片移动D、工件厚度减小
考题
射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从缺陷影像的几何形状、（）和位置进行综合分析。A、长度B、厚度C、大小D、黑度分布
考题
从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、胶片粒度B、底片上缺陷影像的不清晰度C、底片上缺陷影像的对比度D、以上都是
考题
从可检出最小缺陷的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A、底片成象颗粒度B、底片上缺陷图像不清晰度C、底片上缺陷图像对比度D、以上都是
考题
决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因数是（）A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是
考题
射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A、底片上的密度B、胶片的实际尺寸C、底片上的不清晰度D、底片上的对比度
考题
试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A、射线源到物体距离增大B、试样厚度增大C、焦点尺寸减小D、试样厚度减小
考题
夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状
考题
（）对缺陷影像在射线底片上的显示对比度和清晰度有很大影响。
考题
厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的（）。
考题
决定可检出缺陷在射线透照方向最小尺寸（缺陷深度）的是影像的（）。A、对比度B、不清晰度C、颗粒度D、以上都是
考题
能够在工件上充分记录工件厚度范围的叫作（）。A、底片灵敏度B、底片宽容度C、底片清晰度D、源的强度
考题
底片对比度是指（）。A、底片上两个相邻部位的黑度差B、透照工件相邻部位的厚度差C、胶片反差系数D、清晰度和灵敏度
考题
焊接缺陷在射线底片上呈现不同程度的黑色，较黑的斑点和条纹即是缺陷。若底片上多呈现带曲折的、波浪状的黑色条纹即是（）缺陷。A、未焊透B、夹渣C、裂纹
考题
射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从（）黑度分布和位置进行综合分析。A、缺陷影像的几何形状B、缺陷影像的厚度C、缺陷影像的大小D、缺陷影像的长度
考题
单选题试样中靠近射线源侧的缺陷影像，在（）情况下其清晰度不好A
射线源到物体距离增大B
试样厚度增大C
焦点尺寸减小D
试样厚度减小
考题
单选题下列哪项不是底片清晰度变差的原因？（）A
增感屏与底片接触不良B
底片颗粒大C
底片移动D
工件厚度减小
考题
单选题下述哪一项不是改变底片几何不清晰度的因素？（）A
射源至底片距离B
焦点大小C
底片的黑度D
试件厚度变化
考题
单选题源尺寸、工件厚度和源到工件距离这三个因素决定着：（）A
底片密度B
底片曝光量C
胶片尺寸D
底片的不清晰度
考题
判断题夹钨缺陷在X射线照相底片上的影像呈现为黑色块状A
对B
错
考题
单选题射线源尺寸、试样厚度和射线源到试样的距离确定后，也就确定了下述什么参数？（）A
底片上的密度B
胶片的实际尺寸C
底片上的不清晰度D
底片上的对比度
考题
单选题如果工件中存在厚度差，那么射线穿透工件后，不同厚度部位的透过射线的强度就会不同，曝光后暗室处理得到的底片上不同部位就会产生不同（）A
黑度B
对比度C
不清晰度D
亮度
考题
单选题决定缺陷在射线透照方向上可检出最小厚度差的因数是（）A
对比度B
不清晰度C
颗粒度D
以上都是
考题
单选题从可检出最小缺陷尺寸的意义上说，射线照相灵敏度取决于（）A
胶片粒度B
底片上缺陷影像的不清晰度C
底片上缺陷影像的对比度D
以上都是
