考题
硅晶体半导体探测器主要用于测量（）的相对剂量。A、高能X（γ）射线与低能X射线B、高能X（γ）射线与电子束C、低能X射线与电子束D、高能X射线E、低能X射线
考题
对于厚度变化大的物件射线照相时，为了获得较大的宽容度，需要使用线质（）的射线A、较硬B、较软C、宽容度与射线线质无关
考题
高能X射线与物质相互作用的主要形式之一是瑞利散射。
考题
对于厚度变化大的物件射线照相时，为了获得较大的宽容度，需要使用线质较（）的射线A、硬B、软C、硬软都一样D、与线质无关
考题
高能X射线照相的不清晰度主要是固有不清晰度，几何不清晰度的影响几乎可以忽略。
考题
γ射线照相的优点是射线源尺寸小，且对厚度工作照相曝光时间短。
考题
与X射线机相比γ射线照相的优点是（）。A、设备简单B、射线源体积小C、不需外部电源D、以上全是
考题
高能X射线探伤设备与一般X射线探伤设备相比，其优点是（）。A、能量转换效率高B、穿透力强C、散射线少D、以上都是
考题
γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。
考题
射线照相中使用加速器的目的是（）A、产生γ射线B、产生高能量的Χ射线C、产生中子射线D、产生α射线
考题
间接曝光法是哪一种射线检测类别应用的方法（）A、高能射线照相B、中子照相C、层析照相D、康谱顿散射照相
考题
为增大射线照相的宽容度可能采用的方法是（）A、适当提高射线能量B、适当延长曝光时间C、适当加大焦距D、以上都是
考题
扫描射线照相技术的主要优点之一是（）。A、一次完成透照B、透照连续C、影像放大D、操作简单
考题
与X射线机相比，γ射线照相的优点是设备简单、射线源体积轻。
考题
在X射线机窗口前装滤光片的目的是吸收软X射线、（）和减少散射线对底片的影响。A、减小宽容度B、增大宽容度C、增大厚度D、减小厚度
考题
与X射线机相比，γ射线照相的优点是不需要外部电源。
考题
与低能射线透照相比，高能射线透照具有的特点（）。A、 宽容度大B、 对比度较高C、 感光速度快D、 散射线影响大
考题
与X射线机相比，γ射线照相的优点是（）。A、 设备简单B、 射线源体积重C、 需要外部电源D、 以上都是
考题
与X射线照相比，Y射线照相的优点是（）。A、设备简单B、射线源体积小C、可以不用电流D、以上都是
考题
单选题对于厚度变化大的物件射线照相时，为了获得较大的宽容度，需要使用线质（）的射线A
较硬B
较软C
宽容度与射线线质无关
考题
单选题高能X射线探伤设备与一般X射线探伤设备相比，其优点是（）。A
能量转换效率高B
穿透力强C
散射线少D
以上都是
考题
单选题与X射线机相比γ射线照相的优点是（）。A
设备简单B
射线源体积小C
不需外部电源D
以上全是
考题
单选题与低能射线透照相比，高能射线透照具有的特点（）。A
宽容度大B
对比度较高C
感光速度快D
散射线影响大
考题
单选题硅晶体半导体探测器主要用于测量（）的相对剂量。A
高能X（γ）射线与低能X射线B
高能X（γ）射线与电子束C
低能X射线与电子束D
高能X射线E
低能X射线
考题
判断题γ射线照相的优点是射源尺寸小，且对大厚度工件照相曝光时间短。A
对B
错
考题
判断题宽容度大是高能X射线照相的优点之一。A
对B
错
考题
单选题间接曝光法是哪一种射线检测类别应用的方法（）A
高能射线照相B
中子照相C
层析照相D
康谱顿散射照相
