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不能校正系统误差的方法是

A．进行对照试验

B．进行空白试验

C．增加平行测定次数

D．校正仪器

参考答案和解析
增加平行测定次数
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考题 化学分析中的系统误差,可以用不同的方法加以校正。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 下列试验方法中，不能发现并消除系统误差的操作是( )。A.对照试验 B.空白实验 C.改变测定次数 D.仪器校正
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考题 为提高分析结果的质量，减少因试剂带来的系统误差，可采用（）的方法给予校正。
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考题 系统误差是不容易被发现的，更不容易用校正的方法克服。
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考题 下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是（）A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中，由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差
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考题 在微型计算机控制系统中，系统误差是如何产生的？怎样自动校正系统误差？
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考题 正电子发射体层成像系统误差的原因及校正方法有哪些？
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考题 能通过校正的方法将其消除的误差是（）A、随机测量误差B、抽样误差C、系统误差D、观察误差E、以上均不对
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考题 下列关于系统误差产生原因说法不正确的是（）。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中，滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差
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考题 系统误差可以用（）、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定
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考题 系统误差可以用对照试验、空白试验、（）等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验
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考题 滴定管未经校正，属于（）。A、操作误差B、偶然误差C、系统误差D、方法误差
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考题 检验分析方法是否存在系统误差的方法是（）。A、空白试验B、回收试验C、增加测定次数D、对各种仪器进行校正
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考题 在分析过程中，检查有无系统误差存在，作（）试验是最有效的方法，这样可校正测试结果，消除系统误差。A、重复B、空白C、对照D、再现性
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考题 系统误差是由某种固定的原因所造成的，往往使测定结果系统偏高或偏低。因此系统误差可以通过校正的方法予以减小或消除。
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考题 内标法是仪器分析校正方法之一，该方法可以克服或减少仪器或方法的不足等引起的随机误差或系统误差。
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考题 下列有关系统误差说法不正确的是（）。A、系统误差又叫可测误差，主要是由某种固定的原因造成的B、偶然误差是定量分析中误差的主要来源C、系统误差是可以通过校正的方法予以消除或减小
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考题 关于系统误差下列说法正确的有（）A、引起系统误差的因素是确定的B、该误差的大小、方向固定C、系统误差可以重复出现D、系统误差遵循的是函数规律E、系统误差可以靠校正值校正
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考题 根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正（）A、方法误差B、仪器误差C、试剂误差D、操作误差
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考题 系统误差可用校正的方法来减免。
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考题 检查和校正系统误差的试验方法（）、（）、（）
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考题 判断题系统误差可用校正的方法来减免。A 对B 错
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考题 问答题正电子发射体层成像系统误差的原因及校正方法有哪些？
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考题 填空题检查和校正系统误差的试验方法（）、（）、（）
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考题 多选题关于系统误差下列说法正确的有（）A引起系统误差的因素是确定的B该误差的大小、方向固定C系统误差可以重复出现D系统误差遵循的是函数规律E系统误差可以靠校正值校正
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考题 单选题在分析过程中，检查有无系统误差存在，作（）试验是最有效的方法，这样可校正测试结果，消除系统误差。A 重复B 空白C 对照D 再现性
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考题 单选题根据系统误差产生的原因可采取相应的校正方法。进行空白试验是为了校正（）A 方法误差B 仪器误差C 试剂误差D 操作误差
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