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电子探针X射线显微分析可以依据样品激发出的特征X射线的()和()能量进行微区成分分析。


参考答案和解析
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考题 X射线荧光分析中特征X射线光谱的产生过程可以分两步:第一步是利用入射量子的能量激发,第二步则是以特征X射线(荧光)的形式放出能量。

考题 X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

考题 一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射()X射线。A、特征B、平行C、散射D、连续

考题 原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

考题 原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

考题 X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

考题 采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

考题 在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。

考题 X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

考题 由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

考题 在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

考题 X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

考题 进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

考题 电子探针与扫描电镜有何异同?电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析?

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考题 根据X射线的用途可分为以下三类()。A、能量分辨型手提物品微剂量X射线安全检查设备B、能量分辨型托运物品微剂量X射线安全检查设备C、能量分辨型邮件物品微剂量X射线安全检查设备D、能量分辨型货物微剂量X射线安全检查设备

考题 电子探针X射线显微分析基本原理是什么?

考题 填空题XRD、SEM、TEM、EPMA、DTA分别代表X射线衍射分析、()、()、电子探针分析和差热分析分析方法。

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