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局部放电的损耗使介质损耗值增加。（）

参考答案

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考题 介损损耗值与温度的关系是()。 A.介质损耗随温度的上升而减小B.介质损耗随温度的上升而增加C.介质损耗随温度的下降而增加D.介质损耗与温度无关
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考题 各种以作为油绝缘介质的电气设备,一旦出现绝缘介质劣化或进水受潮,都会因()增加而发热。 A.电阻损耗B.介质损耗C.线路损耗D.材质损耗
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考题 介质损耗角正切值与能量损耗成正比,可以用它来描述介质损耗大小。()
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考题 10-60kV氧化锌避雷器发生电压致热型缺陷的故障特征是( )。(A)铁心短路或局部放电增大 (B)阀片受潮或老化 (C)介质损耗偏大、匝间短路或铁心损耗增大 (D)介质损耗偏大，电容量变化、老化或局部放电
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考题 10-60kV氧化锌避雷器发生电压致热型缺陷的故障特征是（ ）。铁心短路或局部放电增大$;$阀片受潮或老化$;$介质损耗偏大、匝间短路或铁心损耗增大$;$介质损耗偏大，电容量变化、老化或局部放电
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考题 在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A对B错
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考题 在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。
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考题 介损损耗值与温度的关系是（）。A、介质损耗随温度的上升而减小B、介质损耗随温度的上升而增加C、介质损耗随温度的下降而增加D、介质损耗与温度无关
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考题 套管带电检测项目有（）。A、红外热像检测B、相对介质损耗因数C、相对电容量比值D、高频法局部放电检测
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考题 电容器的试验项目，应包括下列那些内容（）A、测量绝缘电阻B、测量耦合电容器的介质损耗角正切值、电容值及局部放电试验C、并联电容器交流耐压试验D、冲击合闸试验
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考题 在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。
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考题 以油绝缘介质的电气设备，一旦出现绝缘介质劣化或进水受潮，都会因（）增加而发热。A、电阻损耗；B、介质损耗C、线路损耗；D、材质损耗。
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考题 电容型设备在线监测装置主要监测的特征量是（）。A、局部放电值B、介质损耗因数C、电流值D、电容量
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考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小，通过测量介质损耗正切值，可以发现（）等绝缘缺陷，是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷
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考题 介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时，一般将设备进行分解试验。
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考题 当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成正比。
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考题 局部放电的试验方法中，属于电气法的有（）。A、脉冲电流法B、介质损耗法C、电磁辐射法D、声波法
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考题 氧化锌避雷器出现整体发热或局部发热的异常热像特征，可能存在的故障特征是（）A、铁心短路或局部放电增大B、介质损耗偏大、匝间短路或铁心损耗增大C、阀片受潮或老化D、缺油
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考题 绝缘介质内部各处发生局部放电的强弱及次数可以用介质损耗法来确定。（）
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考题 电介质损耗，按其物理性质可分为下列（）那几种基本形式。A、电阻引起的损耗B、漏导引起的损耗C、电介质极化引起的损耗D、局部放电引起的损耗
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考题 局部放电测量的非电测量法包括（）等。A、化学分析法B、介质损耗法C、声测法D、光测法
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考题 tanδ是介质损耗因数，用百分比表示其数值，实际上它是介质损耗角δ的正切值。
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考题 套管检测项目包括哪些（）。A、红外热像检测B、高频局部放电检测C、相对介质介质损耗因数D、相对电容量比值
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考题 多选题局部放电的电气检测方法有( )。A光检法B介质损耗法C噪声检测法D脉冲电流法
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考题 填空题在高于起始放电电压时，绝缘介质的损耗会随电压的增加而（），因此用测量介质损耗的方法，可以探测设备的局部放电，即所谓测量绝缘的（），但这种方法的灵敏度较低。
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考题 判断题在绝缘试验时，通过测量介质损耗角的正切值tanδ来检验介质损耗的大小。A 对B 错
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考题 判断题介质损耗角正切值与能量损耗成正比，可以用它来描述介质损耗大小。A 对B 错
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