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通过测tgδ可以灵敏地反映出绝缘的分布性缺陷,“预规DL/T5961996”中对()不要做此项试验。

  • A、变压器
  • B、套管
  • C、互感器
  • D、避雷器

参考答案

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考题 测量绝缘电阻的作用是()。测量绝缘电阻可以检查产品是否达到设计的绝缘水平;通过测量绝缘电阻,可以判断电气设备绝缘有无局部贯穿性缺陷、绝缘老化和受潮现象;由所测绝缘电阻能发现电气设备导电部分影响绝缘的异物,绝缘油严重劣化、绝缘击穿和严重热老化等缺陷;是检查其绝缘状态最简便的辅助方法

考题 J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态,但是( )。(A)对局部缺陷反映灵敏,对整体缺陷反映不灵敏 (B)对整体缺陷反映灵敏,对局部缺陷反映不灵敏 (C)对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏 (D)可能灵敏,可能不灵敏

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错

考题 测量绝缘电阻的作用包括()。A、测量绝缘电阻可以检查产品是否达到设计的绝缘水平B、通过测量绝缘电阻,可以判断电气设备绝缘有无局部贯穿性缺陷、绝缘老化和受潮现象C、由所测绝缘电阻能发现电气设备导电部分影响绝缘的异物,绝缘油严重劣化、绝缘击穿和严重热老化等缺陷D、是检查其绝缘状态最简便的辅助方法

考题 不会导致绝缘击穿的试验叫做非破坏性试验。通过这类试验可以及时地发现设备的绝缘缺陷。

考题 为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ,对反映局部缺陷并不灵敏?

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

考题 测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是()A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化

考题 根据“预规DL/T5961996”要求,下列不属于阀型避雷器要做的试验项目有()A、绝缘电阻测试B、测电导电流和串联组合元件的非线性因数差值C、运行电压下的交流泄漏电流D、工频放电电压

考题 绝缘油中溶解气体“预规DL/T5961996”规定的注意值是指()等。A、总烃B、丙烷C、乙炔D、氢

考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A、局部缺陷B、绝缘老化C、局部受潮D、贯穿性导电通道

考题 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 在绝缘预防性试验中,tgδ是基本测试项目,当绝缘受潮或劣化时,tgδ急剧上升。绝缘内部是否普遍局部放电,也可以通过测介损与电压的关系曲线加以判断。

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 tg&的测试与发现绝缘内部缺陷的关系

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,但()A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏

考题 在“预规DL/T 5961996”中,对()等绝缘,因为缺陷的集中性及体积大,通常不做tgδ测试。而对互感器、套管、电容器等则要做tgδ测试。A、电机B、电缆C、变压器D、发电机

考题 当绝缘受潮、老化时,有功电流IR将增大,tgδ也增大。通过测量tgδ很灵敏地反映出绝缘的集中缺陷。

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度

考题 通常把绝缘电阻、泄漏电流、介损tgδ、油的化学性能等的试验叫作绝缘的予防性试验,试说明这些试验项目可以发现的绝缘缺陷的类型。

考题 判断题在绝缘预防性试验中,tgδ是基本测试项目,当绝缘受潮或劣化时,tgδ急剧上升。绝缘内部是否普遍局部放电,也可以通过测介损与电压的关系曲线加以判断。A 对B 错

考题 单选题测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A 局部缺陷B 绝缘老化C 局部受潮D 贯穿性导电通道

考题 判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A 对B 错

考题 判断题在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错

考题 单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A 对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B 对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C 对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D 对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 判断题在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错