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用末端屏蔽法测量110kV串级式电压互感器的tgδ时,在试品底座法兰接地、电桥正接线、Cx引线接试品x、xD端条件下,其测得值主要反映的是()的绝缘状况。

  • A、一次绕组对二次绕组及地;
  • B、处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组对二次绕组之间;
  • C、铁芯支架;
  • D、处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组端部对二次绕组端部之间。

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考题 试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,描述正确的是()。A、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越大B、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越小C、试品电容量大小,对试品tgδ和C测量结果不影响D、以上均不是

考题 在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 用末端屏蔽法测量220kV串级式电压互感器的tgδ,在试品底座法兰对地绝缘,电桥正接线、Cx引线接试品x、xD及底座条件下,其测得值主要反映()的绝缘状况A、一次绕组及下铁芯支架对二次绕组及地B、处于下铁芯下芯柱的1/4一次绕组及下铁芯支架对二次绕组及地C、处于下铁芯下芯柱的的1/4一次绕组端部对二次绕组端部之间的及下铁芯支架对壳之间D、上下铁芯支架

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考题 500kV电容式电压互感器不拆高压引线测量tgδ时,适用的方法不包括()。A、反接屏蔽法B、正接法C、自激法D、末端加压法

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考题 单选题用末端屏蔽法测量110kV串级式电压互感器的tgδ时,在试品底座法兰接地、电桥正接线、Cx引线接试品x、xD端条件下,其测得值主要反映的是()的绝缘状况A 一次绕组对二次绕组及地B 处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组对二次绕组之间C 铁芯支架D 处于铁芯下芯柱的1/2一次绕组端部对二次绕组端部之间

考题 判断题用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的tg∮具体接法是:高压绕组A端加压,X端和底座接地;二次测量绕线和辅助绕组均短接后与电桥CX引线相连;电桥按正接线方式工作。A 对B 错