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测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。
参考答案
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考题
测量分析可将各种来源的变差量化，如来自（）。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差
考题
以下公式错误的是（）。A、 测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）B、 TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2C、 GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2D、 ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
考题
单选题以下公式错误的是（）。A
测量系统的偏倚＝测量值－真值（或约定真值）B
TV（总变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋PV（零件的变差）2C
GRR（测量系统变差）2＝EV（测量设备的变差）2＋AV（评价人的变差）2D
ndc（区别分类数）＝1.41*（PV/GRR）
考题
单选题（）原因通常被称作为非机遇原因，不是总发生在过程变差中的任何因素A
普通B
特殊C
变异
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