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G.652光缆,光纤接头单纤衰减的平均值和最大值是()。

  • A、≤0.04dB、≤0.1dB
  • B、≤0.08dB、≤0.14dB
  • C、≤0.64dB、≤0.12dB
  • D、≤0.12dB、≤0.38dB

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考题 G.652光缆,光纤接头单纤衰减的平均值和最大值是()。 A.0.04dB、0.1dBB.0.08dB、0.14dBC.0.64dB、0.12dBD.0.12dB、0.38dB

考题 对于G.652光纤(1550nm窗口),光缆接头损耗双向平均值≤()/个。A、0.01dBB、0.08dBC、0.22dBD、0.32dB

考题 在验收规范中,光缆、光纤的连接检查,需要().A、光缆、光纤的连接方式应符合设计文件的要求。B、光缆、光纤的连接,可以采用二种方式:活动连接和固定连接。C、当采用熔接方式时,单芯光纤熔接点衰减平均值应不大于0.1db/芯.点;D、当采用冷接方式时,单芯光纤连接点衰减平均值应不大于0.15db/芯点

考题 关于光纤的接续衰减,以下说法正确的是().A、单芯光纤双向熔接衰减(OTDR测量)平均值应不大于0.1dB/芯;B、采用机械接续时单芯光纤双向平均衰减值应不大于0.15dB/芯。C、皮线光缆进入光分纤箱,采用冷接子机械接续时,在接续完必后,尾纤和皮线光缆应严格按照光分配箱规定的走向布放,要求排列整齐,将冷接子和多余的尾纤和皮线光缆有序地盘绕和固定在熔接盘中。D、用户光缆终端盒一侧采用快接式光插座时,多余的皮线光缆顺势盘留在A86接线盒内,在盖面板前应检查光缆的外护层是否有破损、扭曲受压等,确认无误方可盖上面板。

考题 单芯光纤接头衰减取双向平均值为()dB/每个接头。A、0.05B、0.08C、0.1D、0.15

考题 检查光纤接头损耗,平均值必须小于或等于()。A、0.02dBB、0.03dBC、0.05dBD、0.08dB

考题 G.652光纤1550nm衰减系数最大值I级指标()。A、0.35dB/kmB、0.38dB/kmC、0.21dB/kmD、0.24dB/km

考题 G.652光纤1310nm衰减系数最大值Ⅱ级指标()。A、0.35dB/kmB、0.36dB/kmC、0.37dB/kmD、0.38dB/km

考题 G.652光纤1550nm衰减系数最大值I级指标0.21dB/km。

考题 G.652光纤1310nm衰减系数最大值I级和Ⅱ级指标分别为()。A、0.35dB/kmB、0.38dB/kmC、0.21dB/kmD、0.24dB/km

考题 竣工后光缆链路中继段测试项目主要有()。A、总的光缆皮长B、光缆纤芯色谱C、整个光纤的OTDR衰减谱D、每公里接头损耗

考题 光纤接头损耗应达到的设计规定值为:单纤平均接头损耗不大于()。A、0.14dBB、0.12dBC、0.10dBD、0.08dB

考题 以下哪些情况属于非外力原因导致光缆接头盒内断纤或衰减增大()A、容纤盘内光纤松动B、接头盒内的余纤局部弯曲半径过小或光纤扭绞严重C、制作光纤端面时,部分裸光纤在保护管之外D、剥除涂覆层时裸光纤受伤

考题 以下哪些情况属于非外力原因导致光缆接头盒内断纤或衰减增大().A、容纤盘内光纤松动B、接头盒内的余纤局部弯曲半径过小或光纤扭绞严重C、制作光纤端面时,部分裸光纤在保护管之外D、剥除涂覆层时裸光纤受伤E、接头盒进水

考题 以下哪些情况属于非外力原因导致光缆接头盒内断纤或衰减增大:A、接头盒内的余纤局部弯曲半径过小或光纤扭绞严重B、制作光纤端面时,部分裸光纤在保护管之外C、剥除涂覆层时裸光纤受伤

考题 衰耗测试指标,对于光纤,以下描述正确的是()。A、G.652光缆接头损耗双向平均值≤0.08DB/个B、G.652总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km(1550nm窗口)或≤0.38DB/km(1310nm窗口)C、G.655光纤设计不做要求时仅测试1550nm窗口D、G.655总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km(1550nm窗口)E、G.652光缆接头损耗双向取最大值

考题 单模光纤(1550nm、1310nm)波长的每根光纤的最大接头损耗双向平均,应小于等于0.08db/个,中继段内光缆接头平均损耗,应小于等于()/个。

考题 1310nm波长窗口的光纤线路(含固定接头)每公里衰减系数为()。A、0.38dB(光纤带光纤0.4dB)B、0.36dB(光纤带光纤0.38dB)C、0.25dB(光纤带光纤0.27dB)D、0.22dB(光纤带光纤0.25dB)

考题 系统采用光纤分布时,光缆需在线槽中布放,光缆的弯曲半径至少为光缆外径的(),并尽量采用铠装光缆,光纤的接续方式要采用热熔接方式,接续后的衰减平均值要≤0.15dB,衰减最大值要≤0.3dB.A、2倍B、10倍C、15倍D、20倍

考题 G.652光纤1310nm衰减系数最大值()指标0.38dB/kmA、I级B、Ⅱ级C、Ⅲ级D、IV级

考题 光缆单盘测试,光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤()测试。

考题 光缆单盘测试:一般只测光纤衰减常数和光纤长度,测试均要求逐盘逐纤100%测试,测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕,可随机抽几盘光缆进行熔接,检验接续损耗。

考题 多选题衰耗测试指标,对于光纤,以下描述正确的是()。AG.652光缆接头损耗双向平均值≤0.08DB/个BG.652总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km(1550nm窗口)或≤0.38DB/km(1310nm窗口)CG.655光纤设计不做要求时仅测试1550nm窗口DG.655总光纤最大衰耗值≤0.22DB/km(1550nm窗口)EG.652光缆接头损耗双向取最大值

考题 单选题G.652光缆,光纤接头单纤衰减的平均值和最大值是()。A ≤0.04dB、≤0.1dBB ≤0.08dB、≤0.14dBC ≤0.64dB、≤0.12dBD ≤0.12dB、≤0.38dB

考题 单选题G.652光纤1310nm衰减系数最大值()指标0.38dB/kmA I级B Ⅱ级C Ⅲ级D IV级

考题 判断题光缆单盘测试:一般只测光纤衰减常数和光纤长度,测试均要求逐盘逐纤100%测试,测试完毕应密封光缆端头。单盘光缆测试完毕,可随机抽几盘光缆进行熔接,检验接续损耗。A 对B 错

考题 填空题光缆单盘测试,光纤衰减常数、光纤长度均要求逐盘、逐纤()测试。