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判断题
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
A

B


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考题 CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()

考题 CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔,在超声远场,其反射波高随声程的变化规律与()相同A、长横孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C

考题 CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。

考题 CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值

考题 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。

考题 CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。

考题 利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对

考题 CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角

考题 斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中,哪种方法精度最高:()、A、半圆试法和横孔法B、双孔法C、直角边法D、不一定,须视具体情况而定

考题 CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。

考题 CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是

考题 斜探头探伤时试块上最常用的反射体是:()。A、平底孔B、长横孔C、大平底D、以上都可以

考题 CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部

考题 70度探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。

考题 70°探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。

考题 CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。A、>1.5B、>2C、>2.5D、>3

考题 判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A 对B 错

考题 判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A 对B 错

考题 判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。A 对B 错

考题 判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A 对B 错

考题 单选题斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中,哪种方法精度最高:()、A 半圆试法和横孔法B 双孔法C 直角边法D 不一定,须视具体情况而定

考题 单选题70°探头折射角测定应()。A 在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B 在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C 在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D 在半圆试块上测定

考题 单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A 测定斜探头K值B 测定直探头盲区范围C 测定斜探头分辨力D 以上全是

考题 单选题CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K()的探头。A >1.5B >2C >2.5D >3

考题 单选题CSK-ⅠA试块的的R50、R100圆弧面,可用来测定()。A  直探头的的远场分辨力B  斜探头的K值C  斜探头的入射点D  斜探头的声束偏斜角

考题 单选题利用CSK-ⅠA标准试块,在斜探头K值测量中,已知斜探头前沿为12mm , 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时,测得斜探头前沿至CSK-ⅠA标准试块端部距离为83mm,则斜探头K值为()。A  1.2B  2C  1.86D  以上都不对