考题
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。（）此题为判断题(对，错)。
考题
CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()
考题
在用CSK一1A试块进行斜探头入射点和前沿距离的测量时,读数应精确到毫米。()
考题
CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
考题
CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
考题
阶梯试块主要用于测定0°探头（即直探头）的距离幅度特性和（）特性。
考题
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
考题
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
考题
利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对
考题
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
考题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
考题
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
考题
CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
考题
在用CSK-1A试块进行斜探头入射点和前沿距离的测量时,读数应精确到毫米。
考题
WGT—3试块主要用于检测（）。A、钢轨探伤仪灵敏度余量和距离幅度特性B、探头灵敏度余量和斜探头楔内回波幅度C、探头灵敏度余量和直探头楔内回波幅度D、A与B
考题
CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。A、＞1.5B、＞2C、＞2.5D、＞3
考题
CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头.A、＞1.5B、＞2C、＞2.5D、＞3
考题
阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A、斜探头B、直探头C、聚焦探头D、可变角探头
考题
单选题阶梯试块主要用于测定（）的距离幅度特性和阻塞范围。A
斜探头B
直探头C
聚焦探头D
可变角探头
考题
判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A
对B
错
考题
判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A
对B
错
考题
判断题CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。A
对B
错
考题
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A
测定斜探头K值B
测定直探头盲区范围C
测定斜探头分辨力D
以上全是
考题
判断题CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。A
对B
错
考题
单选题CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。A
＞1.5B
＞2C
＞2.5D
＞3
考题
单选题CSK-1A试块1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头.A
＞1.5B
＞2C
＞2.5D
＞3
考题
单选题利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。A
1.2B
2C
1.86D
以上都不对
