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关于根分叉病变的描述不正确的是

A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查

B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入

C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度

D、X线片的表现常比实际病变轻

E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

参考答案

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考题 上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A.颊倾B.腭侧C.远中D.近中E.以上皆可
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考题 关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙
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考题 根分叉区病变发生频率最低的牙位是A．下颌第一磨牙B．上颌第一磨牙C．上颌前磨牙D．上颌第二磨牙E．下颌第二磨牙
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考题 上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A．颊侧B．腭侧C．近中D．远中E．以上皆可
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考题 上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中颊根与腭根之间的根分叉及远中颊根与腭根之间的根分叉为佳 A.颊侧 B.腭侧 C.近中 D.远中 E.以上皆可
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考题 关于根分叉病变的描述不正确的是A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查 B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入 C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度 D.X线片的表现常比实际病变轻 E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙
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考题 根分叉区病变发生频率最低的牙位是 A.下颌第一磨牙 B.上颌第一磨牙 C.上颌前磨牙 D.上颌第二磨牙 E.下颌第二磨牙
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考题 根分叉病变最易发生的牙齿是A.下颌第二磨牙 B.下颌第一磨牙 C.下颌前磨牙 D.上颌第二磨牙 E.上颌第一磨牙
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考题 1、下列关于根分叉病变的临床表现及检查方法的描述正确的是A．上颌磨牙近远中邻面根分叉探查均从颊侧进入B．X线片的表现常比实际病变重C．上颌磨牙邻面根分叉的Ⅱ度和Ⅲ度病变很容易区分D．发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙E．发生根分叉病变的患牙早期松动可不明显
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