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在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如果400mm深底波调整φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高多少dB探伤？（晶片直径D=14mm）（）

  • A、36.5dB
  • B、43.5dB
  • C、50dB
  • D、28.5dB

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考题 轴类锻件最主要探测方向是：（）A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤
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考题 用超生波对饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度对工作底面有何要求？
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考题 饼类锻件最主要探测方向是（）A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤
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考题 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是（）A、侧面反射波带来干涉B、探头太大，无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是
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考题 锻件探伤中，利用锻件底波调节探伤灵敏度有什么好处？对锻件有何要求？
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考题 在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（）A、刻度5处B、越出荧光屏外C、仍在刻度10处D、须视具体情况而定
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考题 用2.5MHz直探头探伤，将200mm厚的锻件底波调节到时基线水平刻度10。如改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在（）A、刻度5处B、越出荧光屏外C、仍在刻度10处D、须视具体情况而定
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考题 筒形锻件最主要探测方向是：（）A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是
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考题 在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高（）db探伤？（晶片直径D=14mm）A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db
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考题 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上全部
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考题 某钢棒直径Φ180mm（CL=5900m/s），欲用底波方式法调整起始灵敏度探伤，要求能发现Φ2mm平底孔当量及以上的缺陷，可考虑采用下述哪种探头较适宜？（）A、5MHz10x2，焦距30mm双晶直探头B、2.5MHzΦ14mm直探头C、2.5MHzΦ20mm直探头D、2.5MHz8x10mm，60°斜探头
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考题 用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能
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考题 饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度，对工件底面有何要求？
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考题 在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置，其原因是（）。A、探头太大，无法移至边缘B、侧壁反射波发生干涉C、频率太高D、以上都不是
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考题 在钢材探伤中，已知有一直探头，直径为20mm，频率为2.5MHz，求该探头在钢中的指向角？
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考题 大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时，如无缺陷，则探伤图形中只有发射脉冲和底波，如发现缺陷，则在底波之前显示（）
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考题 判断题锻件的晶粒比较细小，单晶直探头常采用频率2.5MHz~5MHz，双晶直探头常采用频率5MHz。A 对B 错
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考题 问答题用超生波对饼形大锻件探伤，如果用底波调节探伤起始灵敏度对工作底面有何要求？
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考题 单选题在直探头探伤，用2.5MHz探头，调节锻件200mm底波于荧光屏水平基线满量程刻度10。如果改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在：（）A 刻度5处B 越出荧光屏外C 仍在刻度10处D 须视具体情况而定
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考题 单选题用2.5MHz直探头探伤，将200mm厚的锻件底波调节到时基线水平刻度10。如改用5MHz直探头，仪器所有旋钮保持不变，则200mm底波出现在（）A 刻度5处B 越出荧光屏外C 仍在刻度10处D 须视具体情况而定
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考题 单选题在使用2.5MHz直探头做锻件探伤时，如用400mm深底波调整Φ3mm平底孔灵敏度，底波调整后应提高（）db探伤？（晶片直径D=14mm）A 36.5dbB 43.5dbC 50dbD 28.5db
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考题 单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A 直探头端面探伤B 直探头侧面探伤C 斜探头端面探伤D 斜探头侧面探伤
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考题 单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A 轴向直探头探伤B 径向直探头探伤C 斜探头外圆面轴向探伤D 斜探头外圆面周向探伤
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考题 单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A 底面与探伤面不平行B 工件内部有倾斜的大缺陷C 工件内部有材质衰减大的部位D 以上都有可能
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