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扫描电镜的主要作用是进行显微形貌分析和确定成分分布。()


参考答案

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考题 对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

考题 扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()

考题 SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的( )。A.方解石 B.斜长石 C.角闪布 D.石英

考题 扫描电镜中观察到的断口形貌有什么特点?

考题 下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A、透射电镜B、扫描电镜C、扫描隧道显微镜D、超高压透射电镜

考题 分析粉末粒度、粒度分布、粉末形貌与松装密度之间的关系。

考题 下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A、透射电镜B、扫描电镜C、扫描隧道显微镜D、超高压透射电镜E、原子力显微镜

考题 金属晶粒大小和形貌可以在金相显微镜中看到。

考题 电子探针与扫描电镜有何异同?电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析?

考题 SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。A、方解石B、斜长石C、角闪布D、石英

考题 下列用于确定成藏时间的储层测试分析技术是()A、流体包裹体分析B、荧光显微镜彩色图像分析C、扫描电镜能谱图像分析D、有机岩石学分析

考题 扫描电子显微镜可用于()。A、获得细胞不同切面的图像B、观察活细胞C、定量分析细胞中的化学成分D、观察细胞表面的立体形貌

考题 扫描电镜中做形貌观察主要是用()和(),扫描电镜若带有能谱(E.D.S)则可运用特征X射线做()。

考题 扫描电子显微镜可用于()A、观察细胞不同切面的图像B、观察活细胞C、定量分析细胞中的化学成分D、观察细胞表面立体形貌E、观察细胞的活动

考题 单选题表面形貌分析的手段包括()A X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)B SEM和透射电镜(TEM)C 波谱仪(WDS)和X射线光电子谱仪(XPS)D 扫描隧道显微镜(STM)和SEM

考题 单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的()。A 方解石B 斜长石C 角闪布D 石英

考题 单选题透射电镜的两种主要功能()A 表面形貌和晶体结构B 内部组织和晶体结构C 表面形貌和成分价键D 内部组织和成分价键

考题 问答题请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。

考题 单选题下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A 透射电镜B 扫描电镜C 扫描隧道显微镜D 超高压透射电镜

考题 问答题电子探针与扫描电镜有何异同?电子探针如何与扫描电镜和透射电镜配合进行显微结构与微区化学成分的同位分析?

考题 问答题指出下列叙述中的错误,并予以改正:“对材料AmBn的研究方法是:用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定;用扫描电镜对材料进行物相分析,确定其晶体学参数;用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。

考题 多选题在扫描电镜分析中()A成分像能反映成分分布信息,形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像,只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮,平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高

考题 单选题油料铁谱分析,对磨损微粒及污染物微粒的()及其分布进行定量定性研究。 Ⅰ.形貌、数量; Ⅱ.成分; Ⅲ.尺寸。A Ⅰ+ⅡB Ⅰ+ⅢC Ⅱ+ⅢD Ⅰ+Ⅱ+Ⅲ

考题 单选题电子显微分析与其它的形貌、结构和化学组成分析方法相比不具有的特点()A 具有在极高放大倍率下直接观察试样的形貌、晶体结构和化学成分B 为一种微区分析方法,具有很高的分辨率,成像分辨率达到0.2~0.3nm(TEM),可直接分辨原子,能进行纳米尺度的晶体结构及化学组成分析C 各种仪器日益向多功能、综合性方向发展D 操作复杂

考题 单选题下面哪种电镜可以在观察结构的同时,对组织细胞内的元素成分进行分析()。A 透射电镜B 扫描电镜C 扫描隧道显微镜D 超高压透射电镜E 原子力显微镜

考题 单选题铁谱分析是利用高梯度强磁场分离磨损产物,对磨粒的()和()进行分析.A 成分/含量B 尺寸/数量C 尺寸/形貌D 成分/组织

考题 单选题SEM法又称为扫描电镜形貌分析法,属于相对测年法,所测样品为断层泥中的(  )。A 方解石B 斜长石C 角闪布D 石英碎砾