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问答题
请简述透射电镜与扫描电镜进行形貌成像时的差别。
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考题
问答题指出下列叙述中的错误，并予以改正：“对材料AmBn的研究方法是：用X射线衍射仪器对材料进行含量及显微组织形貌的测定；用扫描电镜对材料进行物相分析，确定其晶体学参数；用透射电镜对材料界面、结合组态进行测试分析”。
考题
多选题在扫描电镜分析中（）A成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息B所有扫描电镜像，只能反映形貌信息C形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗D扫描电镜分辨率比透射电镜高
考题
单选题表面形貌分析的手段包括（）A
X射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B
SEM和透射电镜（TEM）C
波谱仪（WDS）和X射线光电子谱仪（XPS）D
扫描隧道显微镜（STM）和SEM
考题
问答题试比较扫描电镜与透射电镜成像原理？为什么透射电镜的样品要求非常薄而扫描电镜没有此要求？
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