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QSl西林电桥侧接线的测量准确度很高。( )


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考题 测量小于1Ω的电阻,要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用()。A.惠斯登电桥B.西林电桥C.凯尔文电桥

考题 在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

考题 现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ,当出现较大的电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值均比真实值大。( )

考题 QSl型西林电桥反接线时电桥桥体处于高电位。( )

考题 在QSl西林电桥的测量操作中,若分流器挡位设置电流值大于试品实际电流值,则电桥R3的调节值需趋向最高限制,电桥才能趋向平衡。( )

考题 用QSl型西林电桥进行实际测量时,消除磁场干扰的办法有:将电桥移到磁场干扰以外;在检流计极性转换开关处于两种不同位置时,调节电桥平衡,求得每次平衡时的试品tgδ值和电容值,然后再求取两次的平均值,以消除磁场干扰的影响。( )

考题 QSl型西林电桥正接线适用于被试品一端接地的情况。( )

考题 用QS-1型西林电桥反接线测量时,试验电压不能超过()KV,而正接线测量时却()限制。

考题 西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A对B错

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。A对B错

考题 测量小于1Ω的电阻,要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用()。A、惠斯登电桥B、西林电桥C、凯尔文电桥D、万用电桥

考题 西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

考题 在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。

考题 电桥按测量用途的不同分为()。A、单臂电桥B、双臂电桥C、精密电桥D、西林电桥

考题 用直流电桥测量电阻时,其测量结果中,()。A、单臂电桥应考虑接线电阻,而双臂电桥不必考虑;B、双臂电桥应考虑接线电阻,而单臂电桥不必考虑;C、单、双臂电桥均应考虑接线电阻;D、单、双臂电桥均不必考虑接线电阻。

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度()。A、低B、高C、相等

考题 西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A、正接线B、反接线C、交叉接线

考题 为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?

考题 在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 关于双臂电桥测量电阻的结果误差下列叙述错误的是()。A、与双臂电桥的准确度等级有关。B、和连接线的电阻有关。C、和接触电阻有关。D、误差与温度无关。

考题 测量小于1Ω的电阻,要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用()。A、惠斯登电桥B、西林电桥C、凯尔文电桥D、万用电表

考题 判断题采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。A 对B 错

考题 单选题西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A 正接线B 反接线C 交叉接线

考题 判断题西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A 对B 错

考题 单选题采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度()。A 低B 高C 相等