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调节仪器的探测距离时,试块和被检件必须在()特性上一致。

  • A、材质组织热处理和加工
  • B、声速
  • C、声衰减,声阻抗

参考答案

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考题 H-1型半圆试块()。A、可调整探测范围B、可测定直探头距离幅度特性C、可测定斜探头的入射角和折射角D、A与C都对

考题 阶梯试块主要用于测定0°探头(即直探头)的距离幅度特性和()特性。

考题 锻钢件探测灵敏度的校准方式是:()A、 没有特定的方式B、 采用底波方式C、 采用试块方式D、 采用底波方式和试块方式

考题 锻钢件探测灵敏度的校正方式是:()A、没有特定的方式B、采用底波方式C、采用试块方式D、采用底波方式和试块方式

考题 按水平距离校准横波扫描速度必须在CSK-ⅠA试块上进行。

考题 CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。

考题 探伤灵敏度校准后,还必须在实物试块上进行比对校验,在仪器条件不变的情况下,试块上相应部位人工缺陷反射波的位置和高度每次均应保持相等。

考题 用试块的方法校准仪器探测灵敏度时,为避免修正,则应采用()。A、 曲面试块B、 对比试块C、 标准试块D、 通用试块

考题 仪器的最大探测距离可通过粗调开关来调节。

考题 70度探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 70°探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定

考题 通常锻件探测灵敏度的调节方式是()。A、只能采用试块方式B、只能采用底波方式C、可采用试块或底波方式D、任意选用不需调节

考题 A型显示超声波探伤设备(包括仪器和探头)的距离分辨力通常用()试块测量。

考题 阶梯试块主要用于测定直探头的距离幅度特性和阻塞范围。

考题 遥感技术是()。A、通过仪器探测地面景物的一种方法B、利用运载工具,通过仪器、远距离、无接触地探测地面景物的一种方法C、远距离、无接触地探测地面景物电磁波特性的一种方法D、利用运载工具,携带各种遥感仪器,远距离、无接触地探测地面景物电磁波特性的一种方法

考题 DB-H2试块可用于测定()探头的距离幅度特性。

考题 单选题用试块的方法校准仪器探测灵敏度时,为避免修正,则应采用()。A 曲面试块B 对比试块C 标准试块D 通用试块

考题 单选题锻钢件探测灵敏度的校准方式是:()A  没有特定的方式B  采用底波方式C  采用试块方式D  采用底波方式和试块方式

考题 填空题A型显示超声波探伤设备(包括仪器和探头)的距离分辨力通常用()试块测量。

考题 填空题阶梯试块主要用于测定0°探头(即直探头)的距离幅度特性和()特性。

考题 单选题遥感技术是()。A 通过仪器探测地面景物的一种方法B 利用运载工具,通过仪器、远距离、无接触地探测地面景物的一种方法C 远距离、无接触地探测地面景物电磁波特性的一种方法D 利用运载工具,携带各种遥感仪器,远距离、无接触地探测地面景物电磁波特性的一种方法

考题 单选题H-1型半圆试块()。A 可调整探测范围B 可测定直探头距离幅度特性C 可测定斜探头的入射角和折射角D A与C都对

考题 单选题调节仪器的探测距离时,试块和被检件必须在()特性上一致。A 材质组织热处理和加工B 声速C 声衰减,声阻抗

考题 单选题70°探头折射角测定应()。A 在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B 在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C 在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D 在半圆试块上测定

考题 判断题CSKⅠA试块上R100和R50两个阶梯圆弧面可用来调节横波扫描速度和探测范围。A 对B 错

考题 单选题NB/T47013.3-2015标准关于对比试块的规定,错误的是()A 对比试块与被检件或材料化学成份相似B 试块的外形尺寸能代表被检工件的特征C 对比试块的厚度与被检工件厚度相对应,涉及到不同工件厚度对接接头检测,试块厚度选择应由其较大工件厚度确定D 对比试块用于仪器探头性能校准和检测校准

考题 单选题锻钢件探测灵敏度的校正方式是:()A 没有特定的方式B 采用底波方式C 采用试块方式D 采用底波方式和试块方式