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金属电阻受应力后,其电阻值的变化主要是由()的变化引起的;半导体电阻受应力后,电阻的变化主要是由()发生变化引起的。


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考题 张力计中,半导体应变片受力变形后其电阻值将发生变化。() 此题为判断题(对,错)。

考题 半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是( )。 A. 截面积B. 电阻率C. 长度D. 高通

考题 电阻应变片的灵敏度系数K指的是( )。A.应变片电阻值的大小 B.单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C.应变片金属丝的截面积的相对变化 D.应变片金属丝电阻值的相对变化

考题 电阻应变片的灵敏度系数K指的是(  )。 A、应变片电阻值的大小 B、单位应变引起的应变片相对电阻值变化 C、应变片金属丝的截面积的相对变化 D、应变片金属丝电阻值的相对变化

考题 金属应变片和半导体应变片主要区别描述错误的是()A、金属应变片主要利用压阻效应B、金属应变片主要利用导体几何尺寸变换引起电阻变化C、半导体应变片主要利用电阻率变化引起电阻变化D、半导体应变片相比金属应变片的灵敏度高,但非线性误差大。

考题 温度的变化会引起电阻值的改变,温度系数是温度每变化()引起电阻值的变化量与标准温度的电阻值之比。A、0.1°CB、1°CC、2°CD、10°C

考题 金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于:前者利用金属的()引起的电阻变化,后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。

考题 一种电阻值随其阻体温度的变化呈显著变化的正温度系数的热敏感半导体电阻器

考题 电阻器的温度系数是指()。A、温度变化时,流过电阻器电流的相对变化B、温度每变化1度所引起电阻两端电压的相对变化C、温度每变化1度所引起电阻值的相对变化D、电阻值每增加一个数量级能够提高耐温的程度

考题 ()电阻应变片式传感器按制造材料可分为()材料和()材料。它们在受到外力作用时电阻发生变化,其中的电阻变化主要是由()形成的。

考题 金属电阻应变片与半导体应变片的主要区别在于:前者利用()引起的电阻变化,后者利用()变化引起的电阻变化。

考题 在外力作用下,金属应变式传感器主要产生几何尺寸变化,而压阻式传感器主要是()发生变化,两者都引起电阻值发生变化。

考题 金属导体或半导体在外力作用下产生机械变形而引起导体或半导体的电阻值发生变化的物理现象称为()。

考题 半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是()。

考题 金属电阻应变片的电阻相对变化主要是由于电阻丝的()变化产生的。A、尺寸B、电阻率C、形状D、材质

考题 金属应变片工作原理是利用()效应;半导体应变片工作原理是利用()效应。二者灵敏系数主要区别是:金属应变片的电阻变化主要由()引起的,半导体应变片的电阻变化主要由()引起的。

考题 固态压敏电阻在某一方向上承受应力时,它的电阻值发生显著变化,这是由哪些方面因素发生显著变化引起的()。A、电阻率B、几何尺寸C、晶面上电荷D、极化电荷

考题 电阻应变片式传感器按制造材料可分为①()材料和②()材料。它们在受到外力作用时电阻发生变化,其中①的电阻变化主要是由()形成的,而②的电阻变化主要是由()造成的。()材料传感器的灵敏度较大。

考题 半导体式应变片在外力作用下引起其电阻变化的因素主要是()。A、长度B、截面积C、电阻率D、高通

考题 当应变片的主轴线方向与试件轴线方向一致,且试件轴线上受一维应力作用时,应变片灵敏系数K的定义是()。A、应变片电阻相对变化与试件主应力之比B、应变片电阻与试件主应力方向的应变之比C、应变片电阻相对变化与试件主应力方向的应变之比D、应变片电阻相对变化与试件作用力之比

考题 金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么?以及相应的补偿措施?

考题 水温传感器为半导体热敏电阻时,其电阻值会随()的变化而变化。

考题 使用金属丝式电阻应变片测量构件应力时,当应力发变化生时,则应变片的()发生变化。A、电阻B、长度C、电阻和长度D、灵敏系数

考题 差动电阻式仪器的电阻值变化,反映被测点()变化。A、应力B、位移C、温度D、湿度

考题 单选题温度的变化会引起电阻值的改变,温度系数是温度每变化()引起电阻值的变化量与标准温度的电阻值之比。A 0.1°CB 1°CC 2°CD 10°C

考题 问答题金属电阻应变片由于温度变化导致其电阻值发生变化的原因是什么?以及相应的补偿措施?

考题 填空题金属电阻应变片与半导体应变片的物理基础的区别在于:前者利用金属的()引起的电阻变化,后者利用半导体材料的电阻率变化引起的电阻变化。