考题
超声探头的核心部分是A．探头表面的匹配层B．探头表面的保护层C．探头背衬材料(背材)D．探头的高频电缆(施以2～10MHz高频电信号)E．压电材料
考题
超声探头的核心部分是A、探头表面的匹配层B、探头表面的保护层C、压电材料D、探头的高频电缆(施以2～10MHz高频电信号)E、探头的背衬材料(背材)
考题
超声波试验系统分辨前表面回波与靠近前表面的小缺陷回波的能力()A.主要取决于换能器发射的始脉冲的形状
B.与被探工件的表面粗糙度无关
C.主要取决于被检零件的厚度
D.用直径较大的探头可以得到改善
考题
探头与被检管材之间的相对运动方式，可以是（）。A、点探头旋转、被检管直线前进B、点探头不动、被检管即旋转有前进C、将点探头沿管圆周排成一圈，被检管直线前进D、以上各条都行
考题
目视检验可以观察评定（）A、被检部件的表面粗糙度B、被检部件的表面整洁程度C、被检部件表面的腐蚀情况D、b和c
考题
超声探头的核心部分是（）。A、探头表面的匹配层B、探头表面的保护层C、探头背衬材料（背材）D、探头的高频电缆（施以2～10MHz高频电信号）E、压电材料
考题
若被检管材从Φ10mm调换为Φ20mm时，只需调换一下位置，而不需要另换探头的是（）。A、旋转点探头B、穿过式探头C、内插式探头D、扇形探头
考题
为了在试件中得到纯横波，斜探头透声斜楔材料的纵波速度应小于被检试件中的（）。
考题
超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。
考题
检验钢材用的K=2斜探头，探测铝材时，被检材料中的折射角不会发生变化。
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
考题
芯片表面与被检材料表面不平行的超声波探伤称为（）。A、液浸探伤法B、斜角探伤法C、接触探伤法D、穿透探伤法
考题
A扫描显示中，荧光屏上垂直显示的振幅代表：（）。A、返回探头的超声波能量大小；B、探头移动的距离；C、被检材料的厚度；D、超声脉冲发射之后经过的时间
考题
探头与被检工件表面直接接触的方法，可用来作（）。A、垂直法探伤B、表面波探伤C、斜射法探伤D、上述三者都可
考题
超声波的声能被缺陷的不规则表面反射和散射，到达接收探头的声能减少，反映为（）。
考题
超声波探伤，探头与被探管子表面作相对运动的轨迹是螺旋线。
考题
超声波检测中，荧光屏中代表被检材料的离探头较远的接口信号称为（）。A、始波B、基波C、底波D、表面波
考题
A型显示的示波屏上信号垂直幅度表示（）。A、返回到探头超声波能量的大小B、探头的移动距离C、超声脉冲反射后经过的时间D、被检材料的厚度
考题
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为（）。A、直射B、扫查C、反射D、折射
考题
填空题超声波的声能被缺陷的不规则表面反射和散射，到达接收探头的声能减少，反映为（）。
考题
单选题探头与被检管材之间的相对运动方式，可以是（）。A
点探头旋转、被检管直线前进B
点探头不动、被检管即旋转有前进C
将点探头沿管圆周排成一圈，被检管直线前进D
以上各条都行
考题
单选题A型显示的示波屏上信号垂直幅度表示（）。A
返回到探头超声波能量的大小B
探头的移动距离C
超声脉冲反射后经过的时间D
被检材料的厚度
考题
单选题在探头表面和被检材料表面之间，用来使超声波振动从探头传播到被检材料中去的材料叫做（）A
润湿剂B
耦合剂C
声发射器D
润滑剂
考题
单选题探头与被检工件表面直接接触的方法，可用来作（）。A
垂直法探伤B
表面波探伤C
斜射法探伤D
上述三者都可
考题
单选题目视检验可以观察评定（）A
被检部件的表面粗糙度B
被检部件的表面整洁程度C
被检部件表面的腐蚀情况D
b和c
考题
单选题超声探头的核心部分是A
探头表面的匹配层B
探头表面的保护层C
探头背衬材料（背材）D
探头的高频电缆（施以2—10MHz高频电信号）E
压电材料
考题
单选题超声波检测中，荧光屏中代表被检材料的离探头较远的接口信号称为（）。A
始波B
基波C
底波D
表面波
