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超声波检测中,荧光屏中代表被检材料的离探头较远的接口信号称为()。

  • A、始波
  • B、基波
  • C、底波
  • D、表面波

参考答案

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考题 超声波探头发射脉冲波到被检试件内,根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法,称为()。

考题 描述材料对超声波衰减快慢的物理量称为() A、检测显示的特征B、材料的系数C、探头特性D、探伤方式

考题 超声波检测仪中,以荧光屏纵轴显示超声波信号强度,以横轴显示超声波传播时间或反射体深度的脉冲显示法叫做()A、连续波显示B、A扫描显示C、B扫描显示D、C扫描显示

考题 在进行超声波检测时,检测面上探头与试件的相对运动称为扫查。

考题 工程外部变形监测中,离较远的稳定点称为()。

考题 超声探头,探头通常又称为超声波换能器,其功能和是将电能转换为超声能和将超声能转换成电能,超声波检测探头多为( ),按被检测工件的形状,材质,检测的目的,条件选用不同的探头。A、压力型B、压强型C、压动型D、压电型

考题 为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料的纵波速度应小于被检试件中的()。

考题 超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。

考题 A型显示的示波屏上信号的垂直幅度表示()。A、超声波反射能量的大小B、探头的移动距离C、超声波脉冲发射后经过的时间D、被检测材料的厚度

考题 在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

考题 A扫描显示中,荧光屏上垂直显示的振幅代表:()。A、返回探头的超声波能量大小;B、探头移动的距离;C、被检材料的厚度;D、超声脉冲发射之后经过的时间

考题 A扫描显示中,荧光屏上垂直显示的波幅代表()A、返回探头的超声能量的大小B、探头移动距离C、被检材料的厚度D、超声脉冲发射之后的时间

考题 A型显示的示波屏上信号垂直幅度表示()。A、返回到探头超声波能量的大小B、探头的移动距离C、超声脉冲反射后经过的时间D、被检材料的厚度

考题 在探头表面和被检材料表面之间,用来使超声波振动从探头传播到被检材料中去的材料叫做()A、润湿剂B、耦合剂C、声发射器D、润滑剂

考题 在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。A、直射B、扫查C、反射D、折射

考题 超声波检测时可采用穿透法,它是最早采用的超声波检测方法,由一个探头发射超声波,透过工件被另一面的探头所接收。

考题 单选题A型显示的示波屏上信号垂直幅度表示()。A 返回到探头超声波能量的大小B 探头的移动距离C 超声脉冲反射后经过的时间D 被检材料的厚度

考题 单选题型显示的示波屏上信号的垂直幅度表示()A 超声波反射能量的大小B 探头的移动距离C 超声波脉冲发射后经过的时间D 被检测材料的厚度

考题 单选题在探头表面和被检材料表面之间,用来使超声波振动从探头传播到被检材料中去的材料叫做()A 润湿剂B 耦合剂C 声发射器D 润滑剂

考题 单选题A扫描显示中,荧光屏上垂直显示的振幅代表:()。A 返回探头的超声波能量大小;B 探头移动的距离;C 被检材料的厚度;D 超声脉冲发射之后经过的时间

考题 填空题工程外部变形监测中,离较远的稳定点称为()。

考题 单选题超声波检测仪中,以荧光屏纵轴显示超声波信号强度,以横轴显示超声波传播时间或反射体深度的脉冲显示法叫做()A 连续波显示B A扫描显示C B扫描显示D C扫描显示

考题 判断题超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。A 对B 错

考题 单选题在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。A 直射B 扫查C 反射D 折射

考题 判断题在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A 对B 错

考题 单选题A扫描显示中,荧光屏上垂直显示的波幅代表()A 返回探头的超声能量的大小B 探头移动距离C 被检材料的厚度D 超声脉冲发射之后的时间

考题 单选题超声波检测中,荧光屏中代表被检材料的离探头较远的接口信号称为()。A 始波B 基波C 底波D 表面波