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探测面曲率愈大,宜用芯片尺寸()的探头,它可使透入试件的声能损耗减小。


参考答案

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考题 为改变超声波传递透入工件的条件和透入工件的超声波能量,在探头和探测面之间施加一种介质,这种介质称为()。 A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂

考题 为改善超声波传递透入工件的条件和提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为() A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂

考题 用折射角45°的斜探头探测钢板中离探测面距离 50mm的缺陷,它的回波前沿应显示于测距标尺满刻度100mm声程的( )刻度。A.5B.7C.3.5D.10

考题 曲面工件探伤时,探伤面曲率半径愈大,耦合效果愈好。

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

考题 直探头辐射透入试件的波可以是横波也可以是表面波或板波。

考题 用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果()。

考题 双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,覆盖区愈大。

考题 用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面

考题 ()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷

考题 将纵波垂直透入试件的探头,称为()。A、直探头B、斜探头C、表面波探头D、组合探头

考题 接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

考题 为提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为()。A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂

考题 探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

考题 直探头辐射透入试件的波()A、只能是纵波B、也可以是横波C、也可以是表面波或板波

考题 用IIW标准块试块测定斜探头的折射角,在探测任何声波的试件时此值()。A、不变B、变化

考题 将纵波垂直透入试件的探头,称为()A、直探头B、斜探头C、表面波探头

考题 用IIW试块测定的斜探头的折射角度,在探测任何声束的试件时,比值()。A、不变B、变化

考题 探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头。

考题 填空题探测面曲率愈大,宜用芯片尺寸()的探头,它可使透入试件的声能损耗减小。

考题 单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 填空题探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头。

考题 单选题为提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为()。A 湿润剂B 耦合剂C 传声剂D 润滑剂

考题 判断题双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离愈远,复盖区愈大。A 对B 错

考题 单选题将纵波垂直透入试件的探头,称为()A 直探头B 斜探头C 表面波探头

考题 单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度,在探测任何声束的试件时,比值()。A 不变B 变化

考题 单选题()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A 耦合剂B 探头线C 仪器D 缺陷