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判断题
JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。
A

B


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考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测用的磁探机应定期进行校验,并有记录可查。

考题 JB/T4730.4-2005标准规定:标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。

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考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:标准试片表面有锈蚀、褶折或磁特性发生改变时不得继续使用。A 对B 错

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考题 判断题JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A 对B 错

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